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de la línea es un indicador del valor de la resistencia. Con esto se
pueden comprobar resistencias entre 20 Ω y 4,7 kΩ. Los con-
densadores y las inductancias (bobinas, transformadores) provocan
una diferencia de fase entre la corriente y la tensión, así también entre
las tensiones de deflexión. De esto resultan imágenes elípticas. La
inclinación y abertura de la elipse son significativas para la impedancia
con frecuencia de red. Los condensadores se presentan en un
margen de 0,1 µF – 1000 µF.
Una elipse con el eje principal horizontal significa alta impedancia
(capacidad pequeña o inductividad grande).
Una elipse con el eje principal vertical significa impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
Una elipse inclinada significa una resistencia de pérdida rela-
tivamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica se
reconocen al paso de la fase conductora a la no conductora. En la
medida en que la tensión lo permite, se presenta la característica
directa e inversa (p.ej. de un diodo zener bajo 10 V). Siempre se trata
de una comprobación en dos polos. Por eso, p.ej. no es posible
comprobar la amplificación de un transistor, pero sí comprobar las
diferentes uniones B-C, B-E, C-E. Dado que la tensión en el objeto de
medida es muy reducida, se pueden comprobar las uniones de casi
todos los semiconductores sin dañarlos. Es imposible determinar la
tensión de bloqueo o de ruptura de semiconductores para tensión >
10V. Esto no es una desventaja, ya que normalmente, en el caso de
fallos en el circuito, éstos producen diferencias notables que dan
claras indicaciones sobre el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante exactos de la comparación con
componentes correctos del mismo tipo y valor. Esto es
especialmente válido para semiconductores. Por ejemplo permite
reconocer rápidamente el cátodo de un diodo normal o zener cuya
impresión es ilegible, diferenciar un transistor p-n-p del tipo
complementario n-p-n o averiguar las conexiones B-C-E de un tipo de
transistor desconocido.
Reservado el derecho de modificación
Obsérvese que con la inversión de los polos de conexión de un
semiconductor (inversión del borne COMP. TESTER con el borne de
masa) se provoca un giro de la imagen de test de 180° sobre el centro de
la retícula. Aún más importante es el resultado bueno-malo de
componentes con interrupción o cortocircuito. Este caso es el más
común en el servicio técnico. Se recomienda encarecidamente actuar
con la precaución habitual para el caso de electricidad estática o de fricción
en relación con elementos sueltos MOS. Pueden aparecer tensiones de
zumbido en la pantalla, si el contacto base o gate de un transistor está
desconectado, es decir, que no se está comprobando (sensibilidad de
la mano).
Los test directamente en el circuito son posibles en muchos casos,
aunque no son tan claros. Por conexión paralela con valores reales y/
o complejos, especialmente si estos tienen una resistencia baja con
frecuencia de red, casi siempre resultan grandes diferencias con
elementos sueltos. También aquí muchas veces resulta útil la
comparación con un circuito intacto, si se trabaja continuamente con
circuitos idénticos (servicio técnico). Este trabajo es rápido, ya que no
hace falta (¡y no se debe!) conectar el circuito de comparación. Los
cables de test se colocan sucesivamente en los puntos de control
idénticos y se comparan las imágenes en la pantalla. Es posible que
el mismo circuito a comprobar disponga de un circuito para la
comparación como por ejemplo en canales estéreo, funcionamiento
de contrafase, conexiones de puentes simétricos. En caso de duda
se puede desoldar una conexión del componente. Esta conexión se
conecta con el borne CT sin señal de masa, ya que entonces se
reducen las perturbaciones de zumbido. El borne con la señal de masa
está conectado con la masa del osciloscopio. Por esto no es sensible
al zumbido.
Al comprobar directamente en el circuito, es preciso desconectar los
cables de medida y sondas atenuadoras conectadas al circuito. Sino,
ya no se podrían analizar libremente los puntos de medida (doble
conexión de masa).
Tester de componentes
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