SICK nanoScan3 I/O Instrucciones De Uso página 126

Ocultar thumbs Ver también para nanoScan3 I/O:
13
DATOS TÉCNICOS
126
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | nanoScan3 I/O
Tabla 30: Interfaces
 
Par de salidas conmutadas
seguras (OSSD)
Rearranque automático de
las salidas conmutadas segu‐
ras (OSSD) después de
Longitud del cable
Interfaz de configuración y diagnóstico
Tipo de conexión
Velocidad de transmisión
Longitud del cable
Tabla 31: Datos eléctricos
 
Datos de servicio
Clase de protección
Tensión de alimentación U
Ondulación residual
Corriente de arranque para
24 V
Consumo de corriente para 24 V
Sin carga de salida Típ. 0,16 A
Con carga de salida máxima Típ. 0,66 A
Modo en reposo Típ. 0,13 A
Consumo de potencia
Sin carga de salida Típ. 3,9 W
Con carga de salida máxima Típ. 15,9 W
Modo en reposo Típ. 3,2 W
Intensidad de salida total
Tiempo de conexión
Salidas conmutadas seguras (OSSD)
Carga de salida
Tensión de salida - estado
ON (HIGH)
Tensión de salida - estado
OFF (LOW)
Intensidad de salida - estado
ON (HIGH)
Corriente de fuga
Inductancia de carga
Capacidad de carga
Resistividad admisible entre
la carga y el dispositivo
Amplitud de impulso de
prueba
Intervalo del pulso de test
nanoScan3 Core I/O
1
2 s ... 60 s (configurable)
≤ 30 m
USB 2.0 Micro B (conector hembra)
≤ 12 Mbit/s (velocidad plena)
≤ 3 m
nanoScan3 Core I/O
III (IEC 61140)
24 V CC (16,8 V ... 30 V CC) (SELV/PELV)
v
± 5%
2)
≤ 1,3 A
≤ 500 mA
≤ 12 s
2 semiconductores PNP en cada pareja de OSSD, protegidos
contra cortocircuitos, con supervisión de cortocircuito
(U
– 2 V) ... U
V
V
0 V ... 2 V
0,5 mA ... 250 mA por OSSD
≤ 250 µA
≤ 2,2 H
≤ 1 µF en serie con 50 Ω
≤ 4 Ω
≤ 300 µs (típ. 230 µs)
Típ. 8 × tiempo del ciclo de exploración
nanoScan3 Pro I/O
≤ 2
≤ 20 m
nanoScan3 Pro I/O
1)
3)
8024598/1H31/2022-08-29 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
loading

Productos relacionados para SICK nanoScan3 I/O