Resistencia De Compuerta A Cátodo - Rockwell Automation Allen-Bradley PowerFlex 7000 Manual De Instalación

Prueba de amortiguador
Apéndice C
278
Resistencia de compuerta a cátodo
Una prueba que puede realizarse en rectificadores controlados de silicio que no
puede realizarse en los SGCT es una prueba de resistencia de compuerta a cátodo.
La medición de resistencia de compuerta a cátodo identifica daños en un
rectificador controlado de silicio al revelar ya sea una conexión de compuerta a
cátodo abierta o en cortocircuito. Para probar un rectificador controlado de
silicio de compuerta a cátodo, desconecte los conductores de la compuerta del
rectificador controlado de silicio desde la tarjeta del driver de compuerta de
autoactivación y mida la resistencia de compuerta a cátodo en el conector
Phoenix de la tarjeta de disparo del rectificador controlado de silicio.
Desconecte de la tarjeta
el conector SCR Phoenix.
Figura 259 – Prueba de compuerta a cátodo del rectificador controlado de silicio
El valor de resistencia de compuerta a cátodo debe estar entre 10 Ω y 20 Ω. Un
valor cercano a 0 Ω indica que existe un cortocircuito interno en el rectificador
controlado de silicio. Un valor extremadamente alto indica que se ha roto la
conexión de compuerta en el dispositivo.
Si la prueba de compuerta a cátodo revela un rectificador controlado de silicio
dañado, consulte la sección
página 23 para determinar el procedimiento de reemplazo del rectificador
controlado de silicio.
Publicación de Rockwell Automation 7000-UM151C-ES-P – Septiembre de 2013
Puntos de prueba para la resistencia de
compuerta a cátodo en conector Phoenix
Definición y mantenimiento de componentes en la