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Tester de componentes
comprobar presenta un cortocircuito, la raya será vertical. En
el caso de interrupción o cuando no hay objeto de medida,
aparece una línea horizontal. La inclinación de la línea es un
indicador del valor de la resistencia. Con esto se pueden com-
probar resistencias entre 20Ω y 4,7Ωk. Los condensadores y
las inductancias (bobinas, transformadores) provocan una di-
ferencia de fase entre la corriente y la tensión, así también
entre las tensiones de deflexión. De esto resultan imágenes
elípticas. La inclinación y abertura de la elipse son significati-
vas para la impedancia con frecuencia de red. Los condensa-
dores se presentan en un margen de 0,1µF-1000µF.
• Una elipse con el eje principal horizontal significa alta
impedancia (capacidad pequeña o inductividad grande).
• Una elipse con el eje principal vertical significa impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
• Una elipse inclinada significa una resistencia de pérdida
relativamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica se
reconocen al paso de la fase conductora a la no conductora.
En la medida en que la tensión lo permite, se presenta la ca-
racterística directa e inversa (p.ej. de un diodo zener bajo 10V).
Siempre se trata de una comprobación en dos polos. Por eso,
p.ej. no es posible comprobar la amplificación de un transistor,
pero sí comprobar las diferentes uniones B-C, B-E, C-E. Dado
que la tensión en el objeto de medida es muy reducida, se
pueden comprobar las uniones de casi todos los semiconduc-
tores sin dañarlos. Es imposible determinar la tensión de
bloqueo o de ruptura de semiconductores para tensión > 10V.
Esto no es una desventaja, ya que normalmente, en el caso
de fallos en el circuito, éstos producen diferencias notables
que dan claras indicaciones sobre el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante exactos de la comparación
con componentes correctos del mismo tipo y valor. Esto es
especialmente válido para semiconductores. Por ejemplo per-
mite reconocer rápidamente el cátodo de un diodo normal o
zener cuya impresión es ilegible, diferenciar un transistor p-n-
p del tipo complementario n-p-n o averiguar las conexiones B-
C-E de un tipo de transistor desconocido.
Obsérvese que con la inversión de los polos de conexión de
un semiconductor (inversión del borne COMP. TESTER con el
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borne de masa) se provoca un giro de la imagen de test de
180° sobre el centro de la retícula.
Aún más importante es el resultado bueno-malo de compo-
nentes con interrupción o cortocircuito. Este caso es el más
común en el servicio técnico. Se recomienda encarecidamente
actuar con la precaución habitual para el caso de electricidad
estática o de fricción en relación con elementos sueltos MOS.
Pueden aparecer tensiones de zumbido en la pantalla, si el
contacto base o gate de un transistor está desconectado, es
decir, que no se está comprobando (sensibilidad de la mano).
Los test directamente en el circuito son posibles en muchos
casos, aunque no son tan claros. Por conexión paralela con
valores reales y/o complejos, especialmente si estos tienen
una resistencia baja con frecuencia de red, casi siempre resul-
tan grandes diferencias con elementos sueltos. También aquí
muchas veces resulta útil la comparación con un circuito intac-
to, si se trabaja continuamente con circuitos idénticos (servicio
técnico). Este trabajo es rápido, ya que no hace falta (¡y no se
debe!) conectar el circuito de comparación. Los cables de test
se colocan sucesivamente en los puntos de control idénticos y
se comparan las imágenes en la pantalla. Es posible que el
mismo circuito a comprobar disponga de un circuito para la
comparación como por ejemplo en canales estéreo,
funcionamiento de contrafase, conexiones de puentes simé-
tricos. En caso de duda se puede desoldar una conexión del
componente. Esta conexión se conecta con el borne CT sin
señal de masa, ya que entonces se reducen las perturbaciones
de zumbido. El borne con la señal de masa está conectado con
la masa del osciloscopio. Por esto no es sensible al zumbido.
Al comprobar directamente en el circuito, es preciso desco-
nectar los cables de medida y sondas atenuadoras conecta-
das al circuito. Sino, ya no se podrían analizar libremente los
puntos de medida (doble conexión de masa).
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