Rockwell Automation Allen-Bradley Compact 5000 Serie Manual Del Usuario página 134

Capítulo 5 Características de los módulos de seguridad
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Figura 12 - Impulso de prueba de 5069-IB8S o 5069-IB8SK en un ciclo
OUT
X
En los módulos 5069-IB8S o 5069-IB8SK, la anchura del impulso de prueba
(X) es menor que 700 μs; el período del impulso de prueba (Y) es menor que
100 ms.
Cuando se cierra un contacto de entrada externo, se emite un impulso de
prueba desde el terminal de salida de prueba para diagnosticar el cableado de
campo y los circuitos de entrada. Esta función permite detectar cortocircuitos
entre las entradas y la alimentación de 24 V, así como entre las líneas de
señales de entradas.
Figura 13 - Cortocircuito entre las líneas de señales de entradas
24 VCC
Publicación de Rockwell Automation 5069-UM004C-ES-P - Septiembre 2019
Y
IN +
COM
24 VCC
0 VCC
TO0
Contacto externo
Cortocircuito entre las líneas de
señales de entradas y la fuente de
IN 0
alimentación eléctrica (lado positivo)
TO1
Contacto externo
Cortocircuito entre los canales 0 y 1.
IN 1
Activado
Desactivado