Historia Temporal De Las Comprobaciones De Las Ossd; Ossd - SICK microScan3 Pro I/O Instrucciones De Uso

13
DATOS TÉCNICOS
13.5

Historia temporal de las comprobaciones de las OSSD

214 I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Pro I/O
Modo 1 (ajuste previo): t
°
Modo 2: t = 1 ms
°
I
Modo 3: t = 2 ms
°
I
Modo 4: t = 3 ms
°
I
• n = Evaluación múltiple definido del dispositivo guest
Valor predeterminado n = 2.
La evaluación múltiple puede modificarse para el escáner láser de seguridad o
para cualquier campo individual (2 ≤ n ≤ 16).
• t = 35 ms (tiempo para el procesamiento y la salida del dispositivo guest)
OG
• t = Tiempo de transmisión en el grupo host-guest (véase Safety Designer, ventana
T
Visión general de conexión, columna Tiempo de respuesta a través de la red [ms]:)
• t = 28 ms (tiempo para la entrada del host)
IH
•
t = Tiempo de procesamiento y salida del host
OH
Dependiendo de la salida utilizada:
Par OSSD 1: t
°
OH
Par OSSD 2, 3, 4: t
°
Temas relacionados
• "Resumen de conexiones", página 126
El escáner láser de seguridad comprueba las salidas conmutadas seguras (OSSD) a
intervalos periódicos. Para ello, el escáner láser de seguridad conmuta cada OSSD
activa brevemente (durante un máximo de 300 μs) al estado apagado y comprueba si
este canal está libre de tensión durante ese tiempo.
Asegúrese de que el control de la máquina no reacciona a esos pulsos de test y de que
la máquina no se desconecta.
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 101: Pruebas de desconexión
t Tiempo de ciclo de exploración
S
• Ajuste "30 ms": t
• Ajuste "40 ms": t
• Ajuste "50 ms": t
Los pulsos de test de los otros pares de OSSD están desfasados cada uno el valor de
t .
S
= 0 ms
I
= 10 ms
= 20 ms
OH
t t t
S S S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
t t t
S S S
t
t
8025427/2021-08-24 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso