Función De Retención; Blanking - Leuze CML 730i Instrucciones Originales De Uso

Funciones
3
1
6
1
2
3
4
5
6
Fig. 4.5: Funciones de evaluación
Otras funciones de evaluación son:
• El estado de las áreas de haces 1 ... 32
• El estado de las entradas/salidas digitales
Para más información sobre las asignaciones de área de haces a un pin de salida o el estado de las
entradas/salidas digitales vea capítulo 4.10.
4.5 Función de retención
Los tiempos de retención se ajustan a través de la respectiva interfaz de bus de campo (vea
capítulo 10 y sigs.) o del software de configuración
Con esta función se pueden memorizar temporalmente los valores mínimos y los máximos de las
siguientes funciones de evaluación durante un tiempo ajustable:
• Primer haz interrumpido (FIB)
• Primer haz no interrumpido (FNIB)
• Último haz interrumpido (LIB)
• Último haz no interrumpido (LNIB)
• Número total de haces interrumpidos (TIB)
• Número total de haces ininterrumpidos (TNIB)
• Evaluación de haces individuales («beamstream»): un haz interrumpido se mantiene en 0 lógico
hasta que transcurra el tiempo de retención en el bit de salida.
La memorización intermedia facilita la lectura de los resultados de la medición en el caso de que el control
utilizado no pueda transmitir los datos a la misma velocidad a la que la cortina óptica los ofrece.
4.6

Blanking

Si debido a la presencia de marcos, travesaños o elementos constructivos similares las cortinas ópticas
están montadas de tal modo que algunos haces están interrumpidos de forma permanente, estos haces
deberán omitirse.
Leuze electronic GmbH + Co. KG
4
5
Número total de haces interrumpidos (TIB)
Número total de haces ininterrumpidos (TNIB)
Último haz interrumpido (LIB)
Último haz ininterrumpido (LNIB)
Primer haz ininterrumpido (FNIB)
Primer haz interrumpido (FIB)
2
2
Sensor Studio
CML 730i
(vea capítulo 16).
30