Kompatybilność elektromagnetyczna (EMV)
Pomiary odporności na zakłócenia SIP/SOP
Odporność na wyładowanie elektryczności statycznej
IEC 61000-4-2:2008
± 8 kV kontaktowe
± 2 kV, ± 4 kV, ± 8 kV, ± 15 kV powietrzne
Odporność na szybkozmienne zakłócenia przejściowe -
E/A, bramki SIP/SOP
IEC 61000-4-4:2012
± 1 kV
Częstotliwość powtarzania 100kHz
Odporność na zaburzenia przewodzone, indukowane
przez pola o częstotliwości radiowej - bramki SIP/SOP
IEC 61000-4-6:2013
3 V
0,15 - 80 MHz
6 V
Pasma częstotliwości ISM
0,15 - 80 MHz
80 % AM przy 1 kHz
4.2
Płyta pamięciowa
Warunki otoczenia podczas pracy
Temperatura
Względna wilgotność powietrza
Warunki otoczenia przy przechowywaniu i transporcie
Temperatura
Względna wilgotność powietrza
Wymiary płyt pamięciowych wewnątrzustnych
Rozmiar 0
Rozmiar 1
Rozmiar 2
Rozmiar 3
Rozmiar 4
Rozmiar 4C
2137100008L22
2311V001
°C
°F
%
°C
°F
%
mm
cal
mm
cal
mm
cal
1,22 x 1,61
mm
cal
mm
cal
mm
cal
Opis produktu
zaliczono
zaliczono
zaliczono
18 - 45
64 - 113
< 80
< 45
< 113
< 80
22 x 35
0,87 x 1,38
24 x 40
0,94 x 1,57
31 x 41
27 x 54
1,06 x 2,13
57 x 76
2,24 x 2,99
48 x 54
1,89 x 2,13
PL
|
13