SICK S3000 Instrucciones De Servicio página 161

Escáner láser de seguridad
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Instrucciones de servicio
S3000
8009939/YY95/2016-02-10
Sujeto a cambio sin previo aviso
Datos técnicos
OSSDs
Pareja de salidas de conmutación del
dispositivo
Estado seguro en caso de error
Tensión de corte nivel lógico alto (HIGH) a
500 mA
Tensión de corte nivel lógico bajo (LOW)
Fuente de corriente conmutada
41)
Corriente de fuga
42)
Inductancia de carga
Capacidad de carga
Secuencia de maniobras (sin conmutación
ni evaluación múltiple)
Resistividad admisible
Anchura de pulso de test
Frecuencia de test
Con 0,25° resolución angular
Con 0,25° resolución angular
Tiempo de conmutación de las OSSDs de
rojo a verde
Asincronía al conectar las OSSDs entre
OSSD2 y OSSD1
40)
Válido para tensiones entre U
41)
En caso de error (interrupción del cable de 0 V) fluye como máximo la corriente de fuga en el cable OSSD. El
elemento de control conectado en serie debe detectar este estado como nivel lógico bajo (LOW). Un FPLC
(controlador lógico programable de seguridad) debe detectar este estado.
42)
Cuando la secuencia de maniobras es pequeña, la máxima inductancia de carga admisible es mayor.
43)
Limitar a este valor la resistividad de cada hilo con respecto al elemento conectado en serie, con el fin de que
se detecte con seguridad una derivación entre las salidas. (Observe además la EN 60 204W1.)
44)
Las salidas se prueban siempre cíclicamente en estado activo (breve conmutación nivel lógico bajo (LOW)). Al
seleccionar los elementos de control conectados en serie hay que asegurarse de que los pulsos de test no
causen una desconexión.
© SICK AG • Industrial Safety Systems • Alemania • Reservados todos los derechos
2 semiconductores PNP, a prueba de
cortocircuitos
derivación
Al menos una OSSD está en posición
DESCONECTADO.
U
0 V
6 mA
43)
44)
y 0 V.
v
Mínimo
Típico
40)
, con supervisión de
– 2,7 V
V
0 V
0,2 A
Dependiente de la inductancia de
carga
230 µs
120 ms
240 ms
120 ms
1,3 ms
Capítulo 12
Máximo
U
V
3,5 V
0,5 A
250 µA
2,2 H
2,2 µF a
50 m
2,5 m
300 µs
2 ms
161

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