Tabla de contenido
(Configuración de datos
corrompida)
Temperature Sensor NVM
Corrupt (NVM del sensor de
temperatura corrupta)
Comm Module DAC Failure
(Fallo del módulo de
comunicación del DAC)
Sensor open/short (Sensor
abierto/con cortocircuito)
2.2.3
Nivel de integridad de seguridad (SIL)
El STT850 está concebido para lograr la integridad suficiente contra errores sistemáticos de
diseño del fabricante. La Safety Instrumented Function (SIF) (función instrumentada de seguridad)
incorporada a este producto no debe utilizarse en un nivel de SIL más alto del establecido sin que
lo justifique el "uso previo" del usuario final o la redundancia de tecnología diversa en el diseño.
Consulte el Manual de seguridad del STT850, documento n.º 34-TT-25-05, para obtener más
información.
Página 6
Manual de usuario del Transmisor de temperatura STT850
Sensor resistance high
(Resistencia del sensor alta)
No DAC Compensation
(Sin compensación DAC)
No Factory Calibration
(Sin calibración de fábrica)
Local Display (Pantalla local)
Low Supply Voltage
(Tensión de
alimentación baja)
Button (Error en ajuste del LRV:
botón de config. de intervalo)
Revisión 1
Tabla de contenido
