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• Una elipse con el eje principal horizontal significa alta
impedancia (capacidad pequeña o inductividad grande).
• Una elipse con el eje principal vertical significa impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
• Una elipse inclinada significa una resistencia de pérdida
relativamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica
se reconocen al paso de la fase conductora a la no
conductora. En la medida en que la tensión lo permite, se
presenta la característica directa e inversa (p.ej. de un diodo
zener bajo 10V). Siempre se trata de una comprobación
en dos polos. Por eso, p.ej. no es posible comprobar la
amplificación de un transistor, pero sí comprobar las
diferentes uniones B-C, B-E, C-E. Dado que la tensión en
el objeto de medida es muy reducida, se pueden
comprobar las uniones de casi todos los semiconducto-
res sin dañarlos.
Es imposible determinar la tensión de bloqueo o de ruptu-
ra de semiconductores para tensión > 10V. Esto no es una
desventaja, ya que normalmente, en el caso de fallos en el
circuito, éstos producen diferencias notables que dan claras
indicaciones sobre el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante con suficiente precisión,
de la comparación con componentes correctos del mismo
tipo y valor. Esto es especialmente v álido para
semiconductores. Por ejemplo permite reconocer
rápidamente el cátodo de un diodo normal o zener cuya
impresión es ilegible, diferenciar un transistor p-n-p del
tipo complementario n-p-n o averiguar las conexiones B-
C-E de un tipo de transistor desconocido.
Obsérvese que con la inversión de los polos de conexión de
un semiconductor (inversión del borne COMP. TESTER con
el borne de masa) se provoca un giro de la imagen de test de
180° sobre el centro de la retícula.
Aún más importante es el resultado bueno-malo de com-
ponentes con interrupción o cortocircuito. Este caso es el
más común en el servicio técnico.
Se recomienda encarecidamente actuar con la precaución
habitual para el caso de electricidad estática o de fricción en
relación con elementos sueltos MOS. Pueden aparecer ten-
siones de zumbido en la pantalla, si el contacto base o gate
de un transistor está desconectado, es decir, que no se está
comprobando (sensibilidad de la mano).
Los test directamente en el circuito son posibles en
muchos casos, aunque no son tan claros. Por conexión
p a r a l e l a
c o n
v a l o r e s
especialmente si estos tienen una resistencia baja con
frecuencia de red, casi siempre resultan grandes dife-
rencias con elementos sueltos. También aquí muchas
veces resulta útil la comparación con un circuito intac-
to, si se trabaja continuamente con circuitos idénticos
(servicio técnico). Este trabajo es rápido, ya que no hace
falta (¡y no se debe!) conectar el circuito de compara-
ción. Los cables de test se colocan sucesivamente en
los puntos de control idénticos y se comparan las
imágenes en la pantalla. Es posible que el mismo circuito
a comprobar disponga de un circuito para la compara-
ción como por ejemplo en canales estéreo, funciona-
miento de contrafase, conexiones de puentes simétri-
cos. En caso de duda se puede desoldar una conexión
del componente. Esta conexión se conecta con el bor-
ne CT sin señal de masa, ya que entonces se reducen
las perturbaciones de zumbido. El borne con la señal de
masa está conectado con la masa del osciloscopio. Por
esto no es sensible al zumbido.
Reservado el derecho de modificación
r e a l e s
y / o
c o m p l e j o s ,
Al comprobar directamente en el circuito, es preciso desco-
nectar los cables de medida y sondas atenuadoras conecta-
das al circuito. Sino, ya no se podrían analizar libremente los
puntos de medida (doble conexión de masa).
Las imagenes de test muestran algunos casos prácticos de
utilización del comprobador de componentes.
Tester de componentes
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