Rockwell Automation Allen-Bradley 1732DS-IB8 Manual Del Usuario página 88

Capítulo 6 Configuración de módulos en el software RSNetWorx para DeviceNet
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3. Asigne el modo.
Elija
Not Used
Safety Pulse Test
Safety
Standard
4. Asigne la fuente de prueba para cada entrada de seguridad del módulo
al que desee realizar una prueba de impulso.
Elija
None
0
1
2
3
(1)
4...15
(1) El número de salidas de prueba varía según el número de catálogo.
5. Asigne un valor a Input Delay Time, Off -> On (de 0 a 126 ms, en
incrementos de 6 ms).
El tiempo de filtro es para la transición de desactivado a activado.
La entrada debe estar en HI cuando haya transcurrido el retardo de
entrada antes de que se establezca en 1 lógico. Este tiempo de retardo se
configura canal por canal, y cada canal se ajusta específicamente para
que coincida con las características del dispositivo de campo para
conseguir el máximo rendimiento.
Publicación de Rockwell Automation 1791DS-UM001J-ES-P - Mayo 2013
Descripción
La entrada está inhabilitada. Permanece en 0 lógico si se conectan 24 V al
terminal de entrada.
Se realiza la prueba de impulso en este circuito de entrada. Se debe usar una
fuente de prueba en el módulo Guard I/O como fuente de 24 V para este
circuito. La fuente de prueba se configura mediante el menú desplegable Test
source. La prueba de impulso detecta cortocircuitos a 24 V y cortocircuitos
entre canales.
Se conecta una entrada de seguridad, pero no es obligatorio que el módulo
Guard I/O realice una prueba de impulso en este circuito. Un ejemplo es un
dispositivo de seguridad que realiza sus propias pruebas de impulsos en los
cables de entrada, tales como una cortina de luz.
Está conectado un dispositivo estándar, tal como un interruptor de
restablecimiento. Este punto no puede usarse en la operación de doble canal.
Descripción
Si se está realizando una prueba de impulso en un punto de
entrada, debe seleccionarse la fuente de prueba que suministra
los 24 V para el circuito de entrada.
Si se introduce una fuente de prueba incorrecta, se producirán
fallos de prueba de impulso en dicho circuito de entrada.