ความเสี ่ ยงต อการบาดเจ็ บจากอุ ปกรณ เป ดและป ดที ่ ด านหน าของอะแดปเตอร ทดสอบ
4)
การใช งาน
4.1)
การใช งานอย างถู กต อง
อะแดปเตอร ทดสอบแบบแมนนวลรุ น MA xxxx
ได รั บการออกแบบมาเป นพิ เศษสํ า หรั บการใช งานในไซต งานการผลิ ตในอุ ตสาหกรรม /
การทดสอบอุ ปกรณ อิ เล็ กทรอนิ กส จะมี การเชื ่ อมต ออะแดปเตอร ทดสอบเข ากั บระบบทดสอบที ่ มี อยู
จะมี ก ารสั ม ผั ส โมดู ล ระบบอิ เ ล็ ก ทรอนิ ก ส ส ํ า หรั บ การทดสอบเข า กั บ อะแดปเตอร ท ดสอบ และดํ า เนิ น การทดสอบ
หรื อกํ า หนดตั ้ งค าโปรแกรม
จะมี การใช หนึ ่ งในอุ ปกรณ เปลี ่ ยนทดแทนสํ า หรั บระบบไฟฟ าซึ ่ งสามารถใช ในการทดสอบ (ATS)
ในอะแดปเตอร ทดสอบ จะสามารถใช งานอะแดปเตอร ทดสอบกั บ INGUN-ATS ของแท เท านั ้ น
4.2)
การใช งานที ่ ไม ถู กต องที ่ อาจเป นไปได
ห ามใช งานอะแดปเตอร ทดสอบ หากมี หนึ ่ งในข อผิ ดพลาดการใช งานดั งต อไปนี ้ เกิ ดขึ ้ น :
มี การใช งานโดยประกอบตั วเรื อนไว ไม สมบู รณ
มี การใช งานโดยใช แรงดั นไฟทดสอบที ่ ไม ผ านการอนุ มั ติ
ผู ป ฏิ บ ั ต ิ ก ารหรื อ เจ า หน า ที ่ ม ี ก ารปรั บ เปลี ่ ย นและประกอบอะแดปเตอร ท ดสอบใหม โ ดยไม ไ ด ร ั บ อนุ ญ าต
วิ ธี การใช งานใดๆ ที ่ ทํ า ให เกิ ดความไม ปลอดภั ย
วิ ธี การใช งานใดๆ ซึ ่ งอยู นอกเหนื อขอบข ายวั ตถุ ประสงค ของโหมดการทดสอบ
5)
เดิ นเครื ่ อง
5.1)
กระบวนการทดสอบเฉพาะด าน ( การประกอบ )
การประมวลผลเฉพาะของ DUT ครอบคลุ ม ถึ ง การเจาะบนแผ น รองรั บ การสั ม ผั ส (KTP) แผ น แรงดั น (ADP)
และแผ นยึ ด (NHP) หากจํ า เป น ให เพิ ่ มกลไกสํ า หรั บการสั มผั สด านข าง
อุ ปกรณ สํ า หรั บการปรั บการทํ า งานบน DUT พร อมกั บหมุ ดสั มผั สแบบสปริ งโหลด (GKS)
และตราประทั บแบบกด (NHS) รวมไปถึ งสายไฟ
รายละเอี ยดที ่ จํ า เป นสํ า หรั บเรื ่ องนี ้ สามารถดู ได ในไดอะแกรมการขยายที ่ แนบมา (INFO 1317)
721
©
INGUN ขอสงวนการเปลี ่ ยนแปลงข อผิ ดพลาดและข อมู ลทางเทคนิ ค
ภาษาไทย