Tiempos De Respuesta - SICK microScan3 Instrucciones De Uso

13
DATOS TÉCNICOS
13.4

Tiempos de respuesta

198 I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 – EtherNet/IP™
Error de medición en salida
de datos medidos
1) En caso de un ensuciamiento intenso, el escáner láser de seguridad muestra un fallo de ensuciamiento y
pone todas las salidas de seguridad en estado OFF.
2) En la zona próxima (zona de 50 mm de anchura delante de la cubierta óptica) la capacidad de detección
del escáner láser de seguridad puede estar limitada. En caso necesario, deberá asegurarse la zona
próxima, por ejemplo, con un rebaje o un estribo.
El tiempo de respuesta del dispositivo de protección es el tiempo máximo entre el
suceso que provoca la actuación del sensor y la disposición de la señal de desconexión
en la interfaz del dispositivo de protección (p. ej., estado OFF de la pareja de OSSD).
PELIGRO
Riesgo por falta de efectividad del dispositivo de protección
En caso de inobservancia, puede que no se finalice el estado con potencial de riesgo
de la máquina o que no se finalice a tiempo.
Adicionalmente al tiempo de respuesta del dispositivo de protección, la transmisión y
el procesamiento de señales posteriores también influyen en el tiempo que transcurre
hasta que finaliza el estado con potencial de riesgo. Entre otros factores, están el
tiempo de ciclo de red, el tiempo de procesamiento de un control y los tiempos de
respuesta de los posibles contactores conectados aguas abajo.
Tener en cuenta el tiempo de otras transmisiones y procesamientos de señales.
b
Tiempo de respuesta
El tiempo de respuesta del escáner láser de seguridad depende de los siguientes
parámetros:
• Tiempo del ciclo de exploración
• Protección contra influencias ajustada
• Evaluación múltiple ajustada
Se puede calcular el tiempo de respuesta con la siguiente fórmula:
t = (t + t ) × n + t
R S I O
Donde...
• t = Tiempo de respuesta
R
• t = Tiempo del ciclo de exploración
S
Ajuste "30 ms": t
°
Ajuste "40 ms": t
°
Ajuste "50 ms": t
°
• t = Tiempo de la protección contra influencias
I
Modo 1 (ajuste previo): t
°
Modo 2: t = 1 ms
°
I
Modo 3: t = 2 ms
°
I
Modo 4: t = 3 ms
°
I
• n = Evaluación múltiple ajustada
Preajustado n = 2.
La evaluación múltiple puede modificarse para el escáner láser de seguridad o
para cualquier campo individual (2 ≤ n ≤ 16).
•
t = Tiempo de procesamiento y salida
O
Dependiendo de la salida utilizada:
microScan3 Core – Ether‐
Net/IP™
Típ. ± 25 mm
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
= 0 ms
I
microScan3 Pro – Ether‐
Net/IP™
8020203/1B6W/2021-08-24 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso