Tektronix TDS1001 Manual De Instrucciones página 37

規格
TDS1001 和 TDS2004 示波器規格的差異
輸入
通道至通道共模互斥
比，一般
通道至通道串音
垂直
在 BNC 處或用 P2220 探
棒時取樣和平均模式中
的類比頻寬，直流耦合
峰值檢測模式中的類比
頻寬 (50 s/每格 至 5 μs/
‡
每格 )，典型
BNC 處的上昇時間，典
†
型
*
頻寬減小為使用 1X 探棒時的 6 MHz。
†
垂直刻度設定大於或等於 5 mV 時。
‡
若 SEC/DIV (水平刻度) 從 2.5 ms/每格設定為 5 ns/每格，示波器便會回復成「取樣」模式。
TDS1001 和 TDS2004 示波器請先詳讀
除下表所述差異之外，TDS1000 和 TDS2000 系列使用者手冊中的規格可套
用至 TDS1001 和 TDS2004 機型。
注意。 「探棒」選項會修改顯示值。 所有「垂直」規格均以 1X 探棒
為基準。 預設「探棒」選項衰減設定為 10X。
TDS1001
60 Hz 時為 100:1
20 MHz 時為 20:1
在 MATH CH1 - CH2 波形上進行測量，兩波道間的訊號和共模間套用測試訊號，
而每個波道具有相同的 VOLTS/DIV 與耦合設定。
在 MATH CH3 – CH4 波形上進行 4 波道機型的測量
20 MHz 時大於或等於
100:1
於其中一個波道上進行測量，並在另一波道的訊號與共模間套用測試訊號，每個
波道具有相同的 VOLTS/DIV 與耦合設定。
TDS1001
* †
40 MHz
20 MHz * (垂直刻度設定 < 5 mV 時)
* †
30 MHz
20 MHz (垂直刻度設定 < 5 mV 時)
< 8.4 ns
TDS2004
60 Hz 時為 100:1
20 MHz 時為 30:1
30 MHz 時大於或等於 100:1
TDS2004
* †
60 MHz
* †
50 MHz
< 5.8 ns
規格
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