Tabla de contenido
3.6 Prueba de diodos
1. Conecte la punta de prueba negra (-) a la conexión COM y la punta de
prueba roja a la conexión V Ω Hz.
2. Coloque el selector de función en la posición
prueba roja al ánodo y la punta de prueba negra al cátodo del diodo que
desea probar. El multímetro visualizará la caída de tensión media. Se
visualiza sólo la cifra "1 " si las puntas de prueba han sido conectadas de
forma inversa.
3.7 Prueba de transistor hFE
1. Coloque el selector de función en la posición hFE.
2. Determine el tipo de transistor (NPN o PNP) y localice la base, el emisor y el
colector. Conecte los cables a las conexiones del soporte de transistor en el
panel frontal.
3. Se visualiza el factor de amplificación hFE medio. Condiciones de prueba:
corriente de base: 10µA y Vce: 3.2V.
3.8 Prueba de continuidad
1. Conecte la punta de prueba negra (-) a la conexión COM y la punta de
prueba roja a la conexión V Ω Hz.
2. Coloque el selector de función en la posición
prueba a los 2 puntos del circuito bajo prueba. Conecte las puntas de prueba
a las dos puntas del circuito que quiere probar. El zumbador incorporado
suena si la resistencia entre las puntas de prueba es inferior a ± 50Ω.
4. Especificaciones
Se puede esperar una exactitud óptima hasta después de 1 año desde la
calibración. Las condiciones ideales de funcionamiento exigen una temperatura
entre 18°C y 28°C y un grado de humedad relativa máx. de 75%.
4.1 Especificaciones generales
TENSIÓN MÁX.
ENTRE ENTRADAS Y MASA
FUSIBLE DE PROTECCIÓN
ALIMENTACIÓN
DISPLAY
y conecte la punta de
y conecte las puntas de
1000 V CC o 700 V CA rms
(sinusoidal)
mA: F 200mA/250V
(A: sin protección)
pila de 9V
LCD, 19999 puntos,
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