Tabla de contenido
13
DATOS TÉCNICOS
13.3
Tiempos de respuesta
122
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | nanoScan3 I/O
CEM
1)
El tipo de protección indicado es válido solo si la cubierta óptica y el conector de sistema están monta‐
dos y si la conexión USB está cerrada con la tapa protectora.
2)
En el caso de fuentes externas de luz que inciden directamente en el plano de exploración según
IEC 61496-3: ≤ 3 klx
3)
IEC 61496-1, n.º 4.3.1 y n.º 5.4.2, IEC 61496-3, n.º 4.3.1 y n.º 5.4.2. La condensación afecta al funcio‐
namiento normal.
4)
Para montaje directo.
Tabla 35: Otros datos
Tipo de luz
Longitud de onda
Grado de reflectancia detec‐
table
Ensuciamiento homogéneo
máximo de la cubierta óptica
sin disminución de la capaci‐
dad de detección
1)
Zona con capacidad de
detección limitada
Tamaño del spot
En la pantalla frontal
A una distancia de 3,0 m
Duración del impulso
Potencia de salida media
Clase de láser
Error de medición en salida
de datos medidos
1)
En caso de suciedad intensa, el escáner láser de seguridad muestra un fallo por suciedad y pone todas
las salidas de seguridad en estado OFF.
2)
En la zona próxima (zona de 50 mm de anchura delante de la cubierta óptica) la capacidad de detección
del escáner láser de seguridad puede estar limitada. En caso necesario, deberá asegurarse la zona
próxima, por ejemplo, con un rebaje o un estribo.
3)
Conforme a IEC 60825-1:2014, este es un producto de clase de láser 1. En determinados casos, se
exige la valoración conforme a la versión antigua de la norma IEC 60825-1:2007, p. ej., por empleadores
dentro de la UE según la Directiva 2006/25 / CE. Según la versión antigua de la norma
IEC 60825-1:2007, debe tomarse como base la clase de láser 1M.
Resumen
El tiempo de respuesta del dispositivo de protección es el tiempo máximo entre el
suceso que provoca la actuación del sensor y la disposición de la señal de desconexión
en la interfaz del dispositivo de protección (p. ej., estado OFF de la pareja de OSSD).
Adicionalmente al tiempo de respuesta del dispositivo de protección, la transmisión y el
procesamiento de señales posteriores también influyen en el tiempo que transcurre
hasta que finaliza el estado con potencial de riesgo. Entre otros factores, están el
tiempo de procesamiento de un control y los tiempos de respuesta de los posibles con‐
tactores conectados aguas abajo.
nanoScan3 Core I/O
Conforme a IEC 61496-1, IEC 61000-6-2, IEC 61000-6-3
nanoScan3 Core I/O
Diodo láser pulsado
905 nm
1,8% ... varios 1.000%
30%
≤ 50 mm
2)
9 mm × 3 mm
15 mm × 2 mm
Típ. 4 ns
12,8 mW
1
3)
Típ. ± 25 mm
nanoScan3 Pro I/O
nanoScan3 Pro I/O
8024598/15VP/2019-11-15 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Capítulos
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