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6.1. REGISTRO DE LAS MEDIDAS
Se puede guardar cada medida de aislamiento una vez finalizada. No se pueden guardar las medidas de tensión.
Estos medidas se guardan en direcciones señaladas por un número de objeto (OBJ) y un número de prueba (TEST).
Un objeto puede contener 99 pruebas. Un objeto puede así representar una máquina o una instalación en la cual se va a realizar
un cierto número de medidas.
Al terminar la medida, pulse la tecla MEM.
MEM
Pulse de nuevo la tecla MEM para confirmar la
ubicación del registro.
MEM
En tal caso, podrá luego visualizar la curva de la medida pulsando la tecla GRAPH (véase § 4.5).
Si no es útil, ponga Guardar muestras en No.
Si pone Guardar muestras en Sí puede programar el tiempo de muestreo (Tiempo de muestreo) con las teclas y .
„ Por defecto, el tiempo de muestreo es mínimo, es decir que todas las muestras adquiridas durante la medida se guardan.
„ El tiempo de muestreo puede ponerse en Auto (automático), el instrumento determina entonces las muestras necesarias para
el trazado de la curva tomando el menor espacio posible en memoria. Si la medida no varía, tomará un único valor y dará
como resultado una curva perfectamente horizontal.
Se aconseja este valor para optimizar el espacio libre en la memoria.
„ El tiempo de muestreo también puede tener un valor programable entre 1 y 25 segundos.
Cuanto más larga la medida, más tiempo puede durar el muestreo. Por ejemplo para una medida de 10 minutos, la
„
duración de muestreo puede ser de 10 segundos. Se obtendrá 60 puntos para la curva, lo que es suficiente.
Asimismo, cuanto más estable la medida, más tiempo puede durar el muestreo. Y cuanto más inestable la medida, menos
„
tiempo debe durar el muestreo para visualizar las variaciones del valor de la resistencia de aislamiento.
6. FUNCIÓN MEMORIA
El instrumento le propone guardar el resultado en la primera
casilla de memoria disponible. Se pueden modificar los números
propuestos con las teclas y .
El instrumento le pregunta si desea guardar las muestras (Guardar
muestras) con la medida.
40
MEMORIA
0
Obj. Test
Fech
01 01
2011-05-26
MEMORIA
0
Obj. Test
Fech
01 01 2011-05-26
Guardar muestras
Tiempo de muestreo (m:s)
100%
Tpo.
Func.
09:04
500V
100%
Func.
Tpo.
09:04
500V
Si
Min.
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