Frequenza di test : 10 kHz
Gamma
50 µF
20 µF
2000 nF
200 nF
20 nF
2000 pF
200 pF
Osservazioni
IV - 90
Display
max.
50.0 µF
19.999 µF
1999,9 nF
199,99 nF
19.999 nF
1999,9 pF
199,99 pF
1 -
Il valore di Q è l'inverso di FD.
2 -
Il morsetto di massa ed i cavi di misura devono
essere utilizzati in condizioni corrette di
blindatura.
3 -
Cx = Punti di valore C visualizzato, cioè
C = 88.88 µF equivalente a CX = 8888.
4 -
La visualizzazione di questa lettura può essere
estesa a 1999 max. senza indicazione di
precisione
5 -
La visualizzazione di questa lettura può essere
estesa a 19999 max. senza indicazione di
precisione.
6 -
La precisione della capacità in ceramica è
funzione della costante dielettrica (K) della
ceramica utilizzata.
Precisione
Fattore di
Capacità
dissipazione
2.0 % + 10
8 % + 100 / Cx+10
(FD < 0.1)
(FD < 0.1)
2.0 % + 6
3.0 % + 100/ Cx+8
(FD < 0.2)
(FD < 0.2)
1.0 % + 5
1.0 % + 100 / Cx+6
(FD < 0.5)
(FD < 0.5)
1.0 % + 5
1.0 % + 100 / Cx+6
(FD < 0.5)
(FD < 0.5)
1.0 % + 5
1.0 % + 100 / Cx+6
(FD < 0.5)
(FD < 0.5)
1.2 % + 6
2.0 % + 100 / Cx+6
(FD < 0.5)
(FD < 0.5)
2.0 % + 8
4.0 % + 100 / Cx+8
(FD < 0.1)
(FD < 0.1)
Osservazioni
dopo cal.
cortocircuito
dopo cal.
cortocircuito
-
-
-
dopo cal.
circuito aperto
dopo cal.
circuito aperto
IX 3131B