Tabla de contenido
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APLICACION Y CONFIGURACIONES
8.1 Principios Generales de Medición del FP-5000
8.1.1 Procesamiento de Muestreo de Entrada Análoga
Las cuatro entradas de intensidad (I
V
, V
) son muestreadas 32 veces por ciclo. La intensidad
C
X
residual, I
, es calculada a partir de las intensidades de fase
R
durante cada actualización. La definición de I
Configuración del Sistema para las conexiones TC. Los Diagramas
de las configuraciones del sistema y definiciones de I
en la Sección 8.2, Opciones de Conexión TC, mas abajo.
Para la mayoría de los propósitos de protección, los valores de
tensión e intensidad se actualizan en cada ciclo de frecuencia. En
el caso de protección instantánea de sobreintensidad (50X y 50P)
los valores son actualizados cada medio ciclo.
Para la función de monitoreo, los valores son la suma de los
valores rms de un ciclo rms promediados por 32 ciclos. Las
cantidades promedio rms proporcionan valores estables de
intensidad y tensión para ser mostradas en el panel frontal. El
ángulo de fase para tensiones e intensidades es calculado a partir
de los valores del fasor de tensión e intensidad de un-ciclo cada
32 ciclos para actualizar el ángulo del fasor de intensidad
mostrado.
8.1.2 Medición de Frecuencia
La frecuencia de línea se obtiene a través de la medición del
período de tensión de la fase A. La medición de frecuencia es
usada para determinar el régimen de muestreo dinámico de todas
las otras entradas de tensión e intensidad. La configuración del
sistema es usada para declarar la frecuencia nominal como 50 o
60 Hz, y esta frecuencia se usará para el muestreo en el caso
donde la tensión de la fase A no está disponible.
8.1.3 Muestreo de Entrada Discreta
Las ocho entradas de contacto discretas Cin1– Cin8 y los estados
de entrada de bloqueo zonal se declaran cada ciclo.
8.2 Opciones de Conexión de TC
Los Transformadores de Intensidad pueden estar conectados de
muchas maneras y las configuraciones especificadas afectan la
manera en que son hechas las mediciones del sistema y los
resultados calculados.
El cálculo de la intensidad residual I
del Sistema para la Conexión de TC. Las configuraciones resultan-
tes de las tres opciones de configuración están mostradas así
como la intensidad residual I
R
Fecha Efectiva: 06/03
, I
, I
, I
) y de tensión (V
A
B
C
X
depende de la
R
se incluyen
R
, depende de la Configuración
R
calculada.
Para más información visite:
FP-5000
, V
,
A
B
Figura 8.1 Conexión de TC con Tres-hilos
Figura 8.2 Cuatro-hilos con TC IN
Figura 8.3 Cuatro-hilos con TC IG
www.cutler-hammer.eaton.com
Fecha Efectiva: 06/03
IL17569BS
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Solución de problemas
