Endress+Hauser Liquitrend QMW43 Manual De Instrucciones página 35

Liquitrend QMW43
Nota
Descripción
Opciones
Offset acumulación de suciedad
Navegación
Descripción
Rango de entrada
Obtener DC-Productos
Navegación
Nota
Descripción
Valor inferior del rango para 4 mA (LRV)
Valor superior del rango para 20 mA (URV)
Navegación
Nota
Descripción
Rango de entrada:
Span mínimo:
Endress+Hauser
Realice únicamente esta función cuando la instalación se encuentre vacía.
La acumulación de suciedad permanente que no es relevante se puede suprimir
automáticamente con esta función. El valor determinado se aplica al parámetro "Offset
acumulación de suciedad".
Ajustar cero
Vacío
Aplicación → Sensor → Offset acumulación de suciedad
El parámetro muestra el valor que el dispositivo suprimió por última vez en el parámetro
"Calibrar acumulación de suciedad cero (GTZ)". Alternativamente, aquí se puede introducir
también un valor definido manualmente para la supresión de la señal.
0 ... 9,0 mA
Aplicación → Sensor → Obtener DC-Productos
Esta función se puede utilizar únicamente con valores de conductividad de productos
≥ 5 µS/cm. El sistema debe llenarse completamente para utilizar esta función.
Esta función determina la constante dieléctrica actual del producto presente. El valor
determinado para la constante dieléctrica se comunica al parámetro DC-Productos.
Salida de corriente 2 (OU2)
Aplicación → Salida de corriente 2 (OU2) → Valor inferior del rango para 4 mA (LRV)
Aplicación → Salida de corriente 2 (OU2) → Valor superior del rango para 20 mA (URV)
El rango de medición configurado para la acumulación de suciedad es siempre = 0 ... 10.
Por lo tanto, en este caso no se muestra el parámetro. Se puede cambiar el rango de
medición configurado para la conductividad.
El span se puede solicitar como valor inicio en la estructura de pedido del producto
mediante el código de producto "Servicio" 570, opción HT "Configuración salida 1 + salida
2".
Para especificar el rango de medición de la salidas de corriente.
0 ... 110 000,0
1 000,0
Descripción de parámetros del instrumento
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