Capítulo 12
Dirección
Entrada de señal de campo 1
Dirección
Entrada de señal de campo 2
Dirección
Entrada de señal de campo 3
Dirección
Entrada de señal de campo 4
Dirección
Entrada de señal de campo 5
Dirección
Entrada de señal de campo 6
Dirección
Entrada de señal de campo 7
Dirección
Entrada de señal de campo 8
Dirección
Diagnóstico
Dirección
Diagnóstico
Tab. 36: Datos de diagnóstico de las conexiones de señales de campo
76
© SICK AG • Industrial Safety Systems • Alemania • Reservados todos los derechos
Anexo
12.3.3
Datos de diagnóstico de las conexiones de señales de campo
16.7
16.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
17.7
17.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
18.7
18.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
19.7
19.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
20.7
20.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
21.7
21.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
22.7
22.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
23.7
23.6
T
B
Out
Sobrecarga
Reservado
Entrada mal
configurada
24.7
24.6
Exceso del tiempo de discrepancia
8
7
25.7
25.6
Reservado
Reservado
Reservado
16)
Estando activado el bit de diagnóstico del exceso del tiempo de discrepancia, los bits de estado para In A e
In B reciben valores de seguridad.
16.5
16.4
16.3
In B
T
Out
Sobrecarga
Error de
test en la
entrada
17.5
17.4
17.3
In B
T
Out
Error de
Sobrecarga
test en la
entrada
18.5
18.4
18.3
In B
T
Out
Sobrecarga
Error de
test en la
entrada
19.5
19.4
19.3
In B
T
Out
Error de
Sobrecarga
test en la
entrada
20.5
20.4
20.3
In B
T
Out
Sobrecarga
Error de
test en la
entrada
21.5
21.4
21.3
In B
T
Out
Error de
Sobrecarga
test en la
entrada
22.5
22.4
22.3
In B
T
Out
Error de
Sobrecarga
test en la
entrada
23.5
23.4
23.3
In B
T
Out
Error de
Sobrecarga
test en la
entrada
24.5
24.4
24.3
16)
Entrada de señal de campo ...
6
5
25.5
25.4
25.3
Reservado
Reservado
Instrucciones de servicio
16.2
16.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
17.2
17.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
18.2
18.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
19.2
19.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
20.2
20.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
21.2
21.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
22.2
22.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
23.2
23.1
A
In A
Reservado
Entrada mal
configurada
24.2
24.1
4
3
2
25.2
25.1
Reservado
Reservado
8010175/TF82/2010-03-05
Sujeto a cambio sin previo aviso
UE4155
16.0
Error de
test en la
entrada
17.0
Error de
test en la
entrada
18.0
Error de
test en la
entrada
19.0
Error de
test en la
entrada
20.0
Error de
test en la
entrada
21.0
Error de
test en la
entrada
22.0
Error de
test en la
entrada
23.0
Error de
test en la
entrada
24.0
1
25.0
Reservado