Hameg Instruments HZ530 Manual Del Usuario página 59

Bajo aspectos EMC esto es realmente dañino. La velocidad real
de flanco pero, en los circuitos con CMOS, no es medible en la
mayoría de laboratorios digitales técnicos. Para esto se precisan
osciloscopios que puedan presentar señales de 100ps y estos sólo
se obtienen en base a un gran desembolso monetario.
Para la resolución de funciones de sistema digitales no es real-
mente necesaria esa velocidad, por lo que en los laboratorios
mencionados anteriormente se suelen encontrar aparatos mucho
más lentos. Estos fingen al usuario unos tiempos de flancos que
no existen realmente. Generalmente sólo se ve el tiempo de subida
del osciloscopio.
Esto revela un problema de técnica de medida: La evaluación de
las características relevantes EMC del sistema para las medidas
necesarias no se pueden realizar con el equipamiento existente,
pero los osciloscopios necesarios son demasiado caros.
Una solución es la separación en el margen de frecuencia: La
evaluación de la función digital se realiza mediante un osciloscopio
medianamente rápido, mientras que las características relevantes
de EMC en frecuencia se obtienen mediante un analizador de es-
pectros. Ya que el análisis de espectros de los correspondientes
márgenes de frecuencia es técnicamente más fácil que la resolu-
ción en el margen de tiempo, se obtienen estos instrumentos a un
coste relativamente bajo. Para la observación de circuitería CMOS
es suficiente un ancho de banda de 1000MHz. Los osciloscopios
correspondientes son muy caros.
59
Änderungen vorbehalten / Reservado el derecho de modificación