SICK WLD4F 30 00 Serie Instrucciones De Uso página 157

7 Eliminação de falhas
7.1 Solução de problemas para dispositivos IO-Link integrados
8025303.1N1Y/2024-03-11 | SICK
Sujeito a alteração sem aviso prévio
A00 A70
IO-Link
Process
data
Bit 0 / Data
type
Bit 1 / tipo Q / Boolean
L2
de dado
Bit.../ 2...15 / 2...15 /
Descrip‐ [Current
tion/Data Receiver measure‐
type Level]/UInt
14 value]/
UInt 14
Bit.../
Descrip‐
tion/Data
type
A tabela Eliminação de falhas mostra as medidas a serem executadas, quando o
sensor não estiver funcionando.
Tabela 7: Eliminação de falhas
LED / padrão de erro
LED verde intermitente
As saídas de comutação não
se comportam de acordo com
a
tabela 6
LED amarelo intermitente
Nenhum objeto na entrada do
feixe, nenhum sinal de saída
Você encontrará informações sobre falhas nos dados de serviço.
A71 A72
V1.1
2 bytes
Byte 0: bit 15... 8
Byte 1: bit 7... 0
Q / Boolean
L1
Qint.1 /
Boolean
2 ... 15 / 2 ... 15 /
[Time [Counter [Length/
value]/ speed
ment UInt 14 measure‐
ment]/
SInt14
Causa
Comunicação IO-Link
1. Comunicação IO-Link
2. Alteração da configuração
3. Curto-circuito
A distância entre sensor e
refletor é grande demais / O
feixe de luz não está total‐
mente alinhado para o refle‐
tor / O refletor não é adequ‐
ado / O vidro frontal e/ou o
refletor está sujo.
Entrada de teste (Test) não
está conectada corretamente
M A N U A L D E I N S T R U Ç Õ E S | WLD4F
MANUAL DE INSTRUÇÕES
A73 A75
4 bytes
Byte 0: bit 31... 24
Byte 1: bit 13... 16
Byte 2: bit 15... 8
Byte 3: bit 7... 0
Q / Boo‐ Qint.1 / Boolean
L2
lean
2 / 2...7 / [empty]
Qint.1 /
Boolean
3 ... 15 / 8 ... 31 / [Carrier
[Time load]/UInt 24
measure‐
ment
value]/
UInt13
Medida
Nenhuma
1. Nenhuma
2. Adaptação da configuração
3. Verificar as conexões elétri‐
cas
Verificar a distância de comu‐
tação / Verificar o alinha‐
mento / É recomendado o
refletor da SICK. / Limpeza das
superfícies ópticas (sensor e
refletor).
Verificar a conexão da entrada
de teste. Se forem usados
conectores fêmea do cabo
com indicações de LED, deve-
-se observar que a entrada
de teste seja respectivamente
ocupada.
pt
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