Sun Java W1100z Guia Del Usuario página 44

Motherboard
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas a la placa madre:
DMA Controller Tests, System Timer Tests, Interrupt Test, Keyboard Controller
Tests, PCI Bus Tests y CMOS RAM/Clock Tests.
Memory, Cache Memory, and Video Memory
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Esta sección muestra las pruebas siguientes realizadas a los diversos tipos de
memoria: Inversion Test Tree, Progressive Inv. Test, Chaotic Addressing Test y
Block Rotation Test.
Input Device
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas al dispositivo de
entrada de datos: Verify Device, Keyboard Repeat, Keyboard LEDs y Turbo Switch.
Mouse
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas al ratón: Buttons,
Ballistics, Text Mode Positioning, Text Mode Area Redefine, Graphics Mode
Positions, Graphics Area Redefine y Graphics Cursor Redefine.
Video
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas al vídeo: Color
Purity Test, True Color Test, Alignment Test, LCD Test y Test Cord Test.
Printer
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La prueba Verify Output se realiza a la impresora.
Multimedia
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas a los componentes
multimedia: Internal Speaker Test, FM Synthesizer Test, PCM Sample Test,
CD/DVD Drive Read Test, CD/DVD Transfer (KB/Sec), CD/DVD Transfer
Rating, CD/DVD Drive Seek Test, CD/DVD Seek Time (ms), CD/DVD Test Disk
Read y CD/DVD Tray Test.
ATAPI Devices
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas a los dispositivo
ATAPI: Linear Read Test, Non-Destructive Write y Random Read/Write.
Floppy Disk
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas al disquete: Linear
Read Test, Write Protect Test, Non-Destructive Write y Random Read/Write.
Hard Disk
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas al disco duro: Read
Test, Read Verify Test, Non-Destructive Write Test, Destructive Write Test,
Mechanics Stress Test e Internal Cache Test.
Serial Port
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En esta sección se muestran las pruebas siguientes realizadas al puerto serie: IRQ
Test, Line Control Test, Handshake Test, Loopback Test e Internal FIFO Test.
3-18 Guía del usuario de las estaciones de trabajo Sun Java W1100z y W2100z • Octubre de 2004