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关于使用SAM的提示
新出现的低导电碳硅石的电导率可能会在不同部位以及不
同的碳硅石之间有所不同。因此，建议您在可疑的宝石表
面的不同部位多进行几次测试。
在可疑的宝石上出现不一致测试结果的情况下，建议您将
此宝石送往权威的宝石实验室进行进一步分析和验证。
请勿在测试和校准期间，在未装上电池盖的情况下使用测
试器。为安全起见，请始终将电池盖装回原位。
为了获取准确的读数，探头必须与宝石的琢面保持垂直。
测试应在宝石的平台面上进行。若您对其测试有任何疑
问，您也可以在宝石的腰棱翻光面上进行测试。
您的手指必须始终放在测试器的金属握柄上，以确保测试
器正常运行。
为了达到测试超小镶嵌宝石（外露直径在1.22毫米或以
下）的最佳准确性，您必须确保探头不得与任何金属/首
饰托架相接触。
为了达到测试超小宝石（0.1克拉或以下）的最佳准确
性，您必须留出5-10秒的测试间歇，以便宝石冷却。
我们建议您在宝石的不同部位进行多次测试，因为宝石不
同晶轴上的导热性可能略有不同。
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