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Plan de chequeo
En semiconductores, los dobles en la curva característica se
reconocen al paso de la fase conductora a la no conductora.
En la medida en que la tensión lo permite, se presenta la
característica directa e inversa (p.ej. de un diodo zener bajo
10V). Siempre se trata de una comprobación en dos polos.
Por eso, p.ej. no es posible comprobar la amplificación de un
transistor, pero sí comprobar las diferentes uniones B-C, B-E,
C-E. Dado que la tensión en el objeto de medida es muy
reducida, se pueden comprobar las uniones de casi todos los
semiconductores sin dañarlos.
Es imposible determinar la tensión de bloqueo o de ruptura
de semiconductores para tensión > 10V. Esto no es una des-
ventaja, ya que normalmente, en el caso de fallos en el circui-
to, éstos producen diferencias notables que dan claras indica-
ciones sobre el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante con suficiente precisión, de
la comparación con componentes correctos del mismo tipo y
valor. Esto es especialmente válido para semiconductores.
Por ejemplo permite reconocer rápidamente el cátodo de un
diodo normal o zener cuya impresión es ilegible, diferenciar
un transistor p-n-p del tipo complementario n-p-n o averiguar
las conexiones B-C-E de un tipo de transistor desconocido.
Obsérvese que con la inversión de los polos de conexión de
un semiconductor (inversión del borne COMP. TESTER con el
borne de masa) se provoca un giro de la imagen de test de
180° sobre el centro de la retícula.
Aún más importante es el resultado bueno-malo de compo-
nentes con interrupción o cortocircuito. Este caso es el más
común en el servicio técnico.
Se recomienda encarecidamente actuar con la precaución ha-
bitual para el caso de electricidad estática o de fricción en
relación con elementos sueltos MOS. Pueden aparecer ten-
siones de zumbido en la pantalla, si el contacto base o gate de
un transistor está desconectado, es decir, que no se está com-
probando (sensibilidad de la mano).
Los test directamente en el circuito son posibles en muchos
casos, aunque no son tan claros. Por conexión paralela con
valores reales y/o complejos, especialmente si estos tienen
una resistencia baja con frecuencia de red, casi siempre re-
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sultan grandes diferencias con elementos sueltos. También
aquí muchas veces resulta útil la comparación con un circuito
intacto, si se trabaja continuamente con circuitos idénticos
(servicio técnico). Este trabajo es rápido, ya que no hace falta
(¡y no se debe!) conectar el circuito de comparación. Los ca-
bles de test se colocan sucesivamente en los puntos de con-
trol idénticos y se comparan las imágenes en la pantalla. Es
posible que el mismo circuito a comprobar disponga de un
circuito para la comparación como por ejemplo en canales
estéreo, funcionamiento de contrafase, conexiones de puen-
tes simétricos. En caso de duda se puede desoldar una co-
nexión del componente. Esta conexión se conecta con el bor-
ne CT sin señal de masa, ya que entonces se reducen las
perturbaciones de zumbido. El borne con la señal de masa
está conectado con la masa del osciloscopio. Por esto no es
sensible al zumbido.
Al comprobar directamente en el circuito, es preciso desco-
nectar los cables de medida y sondas atenuadoras conecta-
das al circuito. Sino, ya no se podrían analizar libremente los
puntos de medida (doble conexión de masa).
Las imagenes de test muestran algunos casos prácticos de
utilización del comprobador de componentes.
Plan de chequeo
Este plan de chequeo está concebido para el control pe-
riódico de las funciones más importantes del aparato sin
necesidad de costosos instrumentos de medida. En las
instrucciones de mantenimiento se describen las correc-
ciones y los ajustes necesarios en el interior del aparato
como resultado de este chequeo. Pero estas tareas sólo
deberán ser realizadas por personas con conocimientos
en la materia.
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