Rockwell Automation Allen-Bradley FLEX 5000 Serie Manual Del Usuario página 76

Capítulo 5 Características del módulo de E/S de seguridad
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Figura 8 – Impulso de prueba de 5094-IB16S y 5094-IB16SXT en un ciclo
OUT
X
En los módulos 5094-IB16S y 5094-IB16SXT, la anchura de impulso (X) es
menor que 600 μs; el período de impulso (Y) es menor que 100 ms.
Cuando el contacto de entrada externo está cerrado, se emite un impulso de
prueba desde el terminal de salida de prueba para diagnosticar el cableado de
campo y los circuitos de entradas. Utilizando esta función, es posible detectar los
cortocircuitos entre las entradas y la alimentación eléctrica de 24 V y entre las
líneas de señales de entrada. No obstante, no puede detectarse un cortocircuito
entre los dos canales de entrada si estos dos canales corresponden a la misma salida
de prueba. Por ejemplo, la salida de prueba 0 se asocia a las entradas de seguridad
0 y 8. Si estos dos canales tienen un cortocircuito, no es posible detectarlos.
Figura 9 – Cortocircuito entre las líneas de señal de entrada
Publicación de Rockwell Automation 5094-UM001E-ES-P – Abril 2020
Y
Activado
Desactivado