Tabla de contenido
Configuración de los ajustes de aplicación
Función de verificación de contacto (detecta un contacto deficiente
con la muestra durante la medición de 4 terminales)
Esta funcionalidad le permite detectar defectos de contacto entre los terminales (H
L
) y la muestra durante la medición de 4 terminales.
POT
Defina la resistencia de contacto entre L
superior que el umbral definido, se mostrará un mensaje de error.
Se mostrará un mensaje de error en el área de visualización del valor medido en la pantalla de me-
dición. (Consulte "error de contacto" en "11.3 Visualización y mensaje de error" (p. 2 30).)
Método de visualización de pantalla (Para obtener más información, consulte p. 2 4):
(Pantalla de medición) Tecla SET>(Pantalla SET) Pestaña ADVANCED>Tecla
1
Seleccione el momento en que se rea-
lizará la operación de verificación de
contacto.
OFF
Deshabilita la función de verifica-
ción de contacto.
BEFORE
Realiza una verificación de contacto
antes de medir la muestra.
AFTER
Realiza una verificación de contacto
después de medir la muestra.
BOTH
Realiza una verificación de contacto
antes y después de medir la mues-
tra.
Seleccionar
BOTH
po de verificación de contacto hace que la
función de salida sincrónica del activador se
encienda automáticamente (p. 6 5).
2
Defina el umbral de verificación de con-
tacto con la tecla .
Rango ajustable: De 1 a 5
86
POT
o
BEFORE
como el tiem-
y L
y entre H
y H
CUR
POT
CUR
Umbral
(SENS)
1
2
3
4
5
3
(Defina solo cuando la función de verifi-
cación de contacto no funcione correc-
tamente).
Defina el tiempo de retardo de verifica-
ción de contacto con la tecla .
Rango ajustable: De 100 µs a 1 s
Tocar la tecla
• Cuando la muestra es un capacitor de capacitan-
cia alta, es posible que la función de verificación
de contacto no se ejecute normalmente en deter-
minadas condiciones de medición.
• Las mediciones de verificación de contacto se rea-
lizan con este orden: (1) entre L
(2) entre H
POT
en función del tiempo de retardo definido.
4
Toque dos veces la tecla EXIT.
Muestra la pantalla de medición.
• Cuando configure la función de verificación de
contacto, el tiempo de INDEX
se demorará de acuerdo con el plazo (p. 2 18).
• El valor de resistencia de contacto admisible pue-
de variar en función de la muestra que se mide.
• El valor de medición no se guardará cuando se
apliquen estas tres condiciones: la función de
memoria (p. 8 7) se configura en ON, el tiempo
se configura en
contacto
, H
, L
CUR
POT
. Si el valor medido es igual o
CONTACT
Resistencia de contacto per-
Ω
misible [
]
Aprox. 1000
Aprox. 500
Aprox. 100
Aprox. 50
Aprox. 20
C
define el valor en 0 s.
y L
y, luego,
POT
CUR
y H
. La medición (2) se demorará
CUR
―
― ― ― ―
y el tiempo de EOM
BEFORE
y se muestra un error de
y
CUR
― ― ―
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