6.2 PRUEBAS AUTOMÁTICAS DEL RELÉ
El DGP realiza automáticamente las pruebas de las funciones principales y de los componentes de hardware
críticos e informa de su estado vía la pantalla de la MMI y los contactos de las alarmas críticas y no críticas. El
informe de fallas depende del tipo o nivel de la falla. Algunas fallas operarán el contacto de alarma crítica y el LED
de estado, mientras que otras sólo operarán el contacto de alarma no crítica.
Hay tres niveles de pruebas automáticas realizadas por el relé. El primer nivel indica las fallas de relé graves que son
indicadas por el mensaje FAIL en la MMI, por la desenergización del relé de alarma crítica, y por el cambio del
LED de estado a rojo. Estas fallas son las más críticas ya que indican que el relé no está ofreciendo protección.
El segundo nivel de pruebas automáticas muestra mensajes de advertencia, indicados por un mensaje WARN
en la MMI y la desenergización del relé de alarma no crítica. Estas fallas son una condición menos crítica,
durante la que el relé aún está ofreciendo cierto grado de protección.
El tercer nivel de pruebas indica los errores de estado del sistema debidos a errores en la alimentación (Disparo por
circuito abierto) o causados por un comando del DGP que desactiva al relé (Desactivar Salidas). Son indicados por
la energización del relé de alarma no crítica, por un LED rojo, o por la desenergización del relé de alarma no crítica.
Sin embargo, no aparece nada en la MMI hasta que se utiliza el comando INFORMATION-STATUS.
Los tipos de pruebas automáticas realizados se describen en la Sección 1.4: OTRAS CARACTERÍSTICAS en la
página 1-17. Los componentes probados durante las pruebas automáticas de verificación se indican en la tabla que
aparece a continuación. Los componentes probados durante las pruebas automáticas en segundo y primer plano
durante la operación se indican en las dos tablas siguientes, respectivamente.
Tabla 6-1: PRUEBAS AUTOMÁTICAS DURANTE LA PUESTA EN MARCHA
COMPONENTE
MÉTODO
PROM
Verificación de tipo CRC en DAP y SSP; suma de verificación
en DSP.
RAM local
Patrones para verificar los bits trabados, las líneas de
dirección trabadas, los bits adyacentes entre
intercomunicaciones
RAM compartido
Igual que RAM local
RAM no volátil
Verificación de tipo CRC en área de calibraciones;
verificación de tipo CRC en NVRAM en serie en DAP; suma
de verificación en área de almacenamiento de fallas
Chip del cronomedidor
Verificar todos los cronomedidores de los procesadores y sus
interrupciones
Chips de interrupción
Verificar todos los controladores de los procesadores y
las interrupciones externas
Chips en serie
Pruebas envolventes e interrupciones para la interfaz en
serie
Controlador A/D
Interfaz DI1A
Puerto en paralelo vía conexión en bucle
Circuitos salida digital
Reloj tiempo real
Prueba de operación e interrupciones del reloj en
tiempo real
Visor LED
Prueba automática incluida por el fabricante
6-2
DGP Digital Generator Protection System
6 SERVICIO
6.2.1 DESCRIPCIÓN
PROCESADOR NATURALEZA
Todos
Crítica
Todos
Crítica
Todos
Crítica
SSP, DAP
Crítica si en área de
calibraciones o
NVRAM en serie
DAP, SSP
Crítica si DAP, No
crítica si SSP
DAP, SSP
Crítica
SSP
No crítica
DAP
Crítica, el DGP se
reinicializará
SSP
Crítica, el DGP se
reinicializará
SSP
No crítica
SSP
No crítica
GE Power Management