6.2.5. MEDIDAS DE RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
Condiciones de referencia particulares:
Capacidad en paralelo: < 1 nF.
Tensión CA máxima externa admisible durante la medida: nula.
Medidas de tensión CC
Rango de medida
Resolución
Incertidumbre intrínseca
Impedancia de entrada
Resistencia de aislamiento
Rango de medida
Rango de medida a 250 V
Rango de medida a 500 V
Rango de medida a 1.000 V
Resolución
Incertidumbre intrínseca
Tensión en vacío
Corriente nominal
Corriente de cortocircuito
Curva típica de la tensión de prueba en función de la carga
La tensión desarrollada en función de la resistencia medida tiene la siguiente forma:
Tiempo de establecimiento típico de la medida en función de los elementos probados
Tensión de prueba
250 V – 500 V – 1.000 V
Tiempo de descarga típica de un elemento capacitivo para alcanzar 25 Vcc
Tensión de prueba
Tiempo de descarga (C en µF)
± (0,0 – 999,9 V)
0,1 V
± (1% L + 2 ct)
0,01 – 1,99 MΩ
0,01 – 0,99 MΩ
0,01 – 0,49 MΩ
10 kΩ
± (5% L + 3 ct)
I = 1 mA
U
N
R
= U
/ 1 mA
N
N
Carga
No capacitiva
10 MΩ
1 s
100 MΩ
1 s
250 V
1 s x C
± (1.000 – 1.200 V)
10 MΩ
0,00 – 99,99 MΩ
2,00 – 99,99 MΩ
1,00 – 99,99 MΩ
0,50 – 99,99 MΩ
10 kΩ
± (3% L + 3 ct)
≤ 1,25 x U
≥ 1 mA
≤ 3 mA
Con 100 nF
2 s
4 s
500 V
1.000 V
2 s x C
4 s x C
40
1 V
± (1% L + 2 ct)
100,0 – 999,9 MΩ
100,0 – 999,9 MΩ
100,0 – 999,9 MΩ
100,0 – 999,9 MΩ
100 kΩ
± (3% L + 3 ct)
N
Con 1 µF
12 s
30 s