Prueba automática incorporada (BIST)
Sobre esta tarea
Hay tres tipos de BIST distintos para comprobar el rendimiento de la pantalla, el riel de alimentación y la tarjeta madre del sistema. Estas
pruebas son importantes para evaluar si una pantalla LCD o una tarjeta madre del sistema debe ser reemplazada.
1. M-BIST: M-BIST es la herramienta de diagnóstico de prueba automática incorporada de la tarjeta madre, que mejora la precisión de los
diagnósticos de las fallas de la controladora integrada (EC) de la tarjeta madre. M-BIST se debe iniciar manualmente antes de la POST
y también se puede ejecutar en un sistema inactivo.
2. L-BIST: L-BIST es una mejora de los diagnósticos de códigos de error LED únicos y se inicia automáticamente durante la POST.
3. LCD-BIST: LCD BIST es una prueba de diagnóstico mejorada que se presenta a través de la evaluación del sistema previa al arranque
(PSA) en sistemas heredados.
Tabla 20. Funciones
Propósito
Desencadenante
Indicador de falla
Instrucción de reparación
Prueba automática incorporada de la tarjeta madre
del sistema (M-BIST)
Sobre esta tarea
Pasos
1. Mantenga presionada la tecla M y el botón de encendido para iniciar la M-BIST.
2. El indicador luminoso de estado de la batería se ilumina en amarillo cuando se produce una falla en la tarjeta madre.
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Solución de problemas
Solución de problemas
M-Bist
Evalúa la condición del estado de la tarjeta
madre del sistema.
Presione la tecla <M> y el botón de
encendido.
Indicador luminoso LED de la batería de
color Amarillo fijo.
Indica un problema con la tarjeta madre del
sistema.
L-Bist
Verifica si la tarjeta madre del sistema envía
alimentación a la pantalla LCD mediante una
prueba de riel de alimentación de la pantalla
LCD.
Integrado en los diagnósticos de códigos de
error de LED único. Se inicia
automáticamente durante la POST.
El código de error del LED de la batería de
[2, 8] parpadea 2 veces en amarillo, hace
una pausa y parpadea 8 veces en blanco
Indica un problema con la tarjeta madre del
sistema.
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