a
3
Ajuste del enfoque
c
WD
b
Escala de posición de la muestra
} Lea y anote las escalas del eje X y del eje Y (coordenadas) para poder
recuperar la posición original de la muestra una vez completada la
observación, incluso después de haber movido la muestra.
1
La escala del eje X debe leerse en la posición a del portamuestras.
b
2
La escala del eje Y debe leerse en la posición de la línea de índice b .
Ajuste del enfoque
1
Colóquese en el lateral del microscopio y gire el mando de ajuste
grueso a en la dirección de la flecha de forma que el objetivo c
quede lo más cerca posible de la muestra.
2
Mientras observa la muestra a través de los oculares, gire lentamente
a
el mando de ajuste grueso a en la dirección opuesta a la flecha
para bajar la platina y ajuste al nivel de brillo oportuno.
3
Cuando la muestra aparezca en la imagen, gire el mando de ajuste
b
preciso b para enfocarla.
Distancia de trabajo (WD)
} La WD representa la distancia entre el objetivo y la muestra
cuando la muestra está enfocada con precisión.
Aumento del
objetivo
WD (mm)
Ajuste de tensión del mando de ajuste grueso
a
1
Puede ajustar la tensión del mando de ajuste de enfoque grueso.
Inserte la punta de un destornillador de punta plana grande en la
c
ranura b situada en el anillo de ajuste de tensión a y gire el anillo.
Gírelo en el sentido de las agujas del reloj (en la dirección de la
flecha) para aumentar la tensión y en sentido contrario para reducirla.
2
Si la platina desciende por su propio peso o el enfoque obtenido con
el mando de ajuste preciso c se pierde al poco tiempo, significa
que el mando no tiene la tensión suficiente. En este caso, gire el
anillo de ajuste de tensión a en la dirección de la flecha para
aumentar la tensión.
4X
10X
40X
27,8
8,0
CX23
100X
0,6
0, 1 3
9
