METREL EurotestXD MI 3155 Manual De Instrucciones página 5

MI 3155 EurotestXD
4.7.3 Operaciones con las áreas de trabajo ................................................................... 49
4.7.4 Operaciones con las exportaciones ....................................................................... 50
4.7.5 Añadir una nueva área de trabajo ......................................................................... 50
4.7.6 Abrir un área de trabajo ......................................................................................... 51
4.7.7 Eliminar un área de trabajo / Exportación .............................................................. 52
4.7.8 Importar un área de trabajo ................................................................................... 52
4.7.9 Exportar un área de trabajo ................................................................................... 53
Grupos de Auto Sequence®...................................................................................... 54
4.8
4.8.1 Menú de grupos de Auto Sequence® .................................................................... 54
5 Organizador de memorias .............................................................................................. 57
Menú del organizador de memorias .......................................................................... 57
5.1
5.1.1 Estados de medición ............................................................................................. 57
5.1.2 Objetos de la estructura ........................................................................................ 58
5.1.3 Seleccionar un espacio de trabajo activo en el organizador de memorias ............. 60
5.1.4 Agregar nodos en el organizador de memorias ..................................................... 61
5.1.5 Operaciones en el menú de árbol .......................................................................... 62
5.1.6 Buscar en el organizador de memorias ................................................................. 80
6 Pruebas individuales ...................................................................................................... 83
Modos de selección................................................................................................... 83
6.1
6.1.1 Pantallas de prueba individual (medición) ............................................................. 84
6.1.2 Ajuste de parámetros y límites de pruebas individuales ........................................ 86
6.1.3 Pantalla de inicio de prueba individual ................................................................... 87
6.1.4 Pantalla de prueba individual durante una prueba ................................................. 88
6.1.5 Pantalla de resultados de prueba individual .......................................................... 89
6.1.6 Grafico de barras (armónicos) ............................................................................... 91
6.1.7 Pantallas de prueba individual (inspección) ........................................................... 92
6.1.8 Pantallas de ayuda ................................................................................................ 96
6.1.9 Pantalla de recuperación de resultados de pruebas individuales ........................... 97
7 Pruebas y mediciones .................................................................................................... 98
Tensión, frecuencia y secuencia de fase ................................................................... 98
7.1
R ais - Resistencia de aislamiento .......................................................................... 102
7.2
R ais todo - Resistencia de aislamiento .................................................................. 104
7.3
Diagnóstico de DAR y PI ......................................................................................... 106
7.4
7.5 Prueba de varistor ................................................................................................... 108
R baja - Resistencia de los conductores de tierra y equipotencialidad .................... 110
7.6
7.7 R baja 4W ............................................................................................................... 111
Continuidad - medición de la resistencia continua con corriente baja ..................... 114
7.8
7.8.1 Compensación de las puntas de prueba ............................................................. 115
7.9 Pruebas de interruptores diferenciales (RCDs) ....................................................... 116
7.9.1 RCD t - Tiempo de disparo ................................................................................. 118
7.9.2 RCD I - Corriente de disparo .............................................................................. 119
Prueba automática de RCD. .................................................................................... 120
7.10
7.11 Z bucle - Impedancia de bucle de fallo y corriente de cortocircuito prevista ............ 122
7.12 Z bucle 4W - Impedancia de bucle de fallo y corriente de cortocircuito prevista ...... 124
Zs rcd - Impedancia de bucle de fallo y corriente de cortocircuito prevista en sistemas
7.13
con RCD ............................................................................................................................. 126
Z bucle m - Impedancia de bucle de fuga de alta precisión y corriente de
7.14
cortocircuito prevista ........................................................................................................... 130
Z línea - Impedancia de línea y corriente de cortocircuito prevista .......................... 133
7.15
Z línea 4W - Impedancia de línea y corriente de cortocircuito prevista ................... 135
7.16
Z línea m - Impedancia de línea de alta precisión y corriente de cortocircuito
7.17
prevista ............................................................................................................................... 137
4
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