Tabla de contenido
MI 3155 EurotestXD
12.22 ISFL – Primera corriente de fuga de defecto
Isc1, Isc2 – Primera corriente de fuga de defecto
Rango de medición (mA)
0,0... 19,9
Medición de resistencia .............................. aprox. 390
Rangos de tensión nominal ........................ 93 V U
12.23 IMD
R1, R2 - umbral de resistencia de aislamiento
R (kΩ)
5 ... 640
I1, I2 – primera corriente de fuga de defecto calculada en el umbral de resistencia de
aislamiento
I (mA)
0,0... 19,9
Rangos de tensión nominal ........................ 93 V U
*) Vea el capítulo 7.27 IMD – Verificación de dispositivos de supervisión de aislamiento
para más información sobre el cálculo de la primera corriente de fuga de fallo en el umbral de la
resistencia de aislamiento.
12.24 Iluminación
E – iluminación (A 1172)
La precisión especificada es válida para el rango de operación completo.
Rango de medición (lux)
0,01... 19,99
20,0... 199,9
200 ... 1999
2.00 k ... 19,99 k
Principio de medición .............................. fotodiodo de silicio con filtro V ()
Error de respuesta espectral .................. < 3,8% según la curva CIE
Error de coseno ..................................... < 2,5% hasta un ángulo de incidencia de 85
Precisión general .................................... adaptado a la normativa DIN 5032 Clase B
E – iluminación (A 1173)
La precisión especificada es válida para el rango de operación completo.
Rango de medición (lux)
0,01... 19,99
20,0... 199,9
200 ... 1999
2.00 k ... 19,99 k
Resolución (mA)
0.1
134 V
L1-L2
185 V U
266 V
L1-L2
Resolución (kΩ)
5
Resolución (mA)
0.1
134 V
L1-L2
185 V U
266 V
L1-L2
Resolución (lux)
0.01
0,1
1
10
Resolución (lux)
0.01
0.1
1
10
205
Especificaciones técnicas
Precisión
±(5 % de lectura + 3 dígitos)
Nota
hasta 128 pasos
Nota
valor calculado *)
Precisión
(5 % de lectura + 2 dígitos)
(5 % de lectura)
Precisión
(10 % de lectura + 3
dígitos)
(10 % de lectura)
O
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