Tabla 21: Diagnóstico De La Et Mínima - Honeywell ST700 Serie Manual De Usuario

Max ET Value
(Valor de la ET
máxima)
Time Above Upper
Stress Limit (Hora superior al límite
superior de
esfuerzo) =
Time Since Last ET
Up (Tiempo desde
la última activación
de la ET)
Min ET Limit Parámetro
(Límite de la
ET mínima)
ET Lower Limit
for Stress
Condition
(Límite inferior
de la ET para
la condición de
esfuerzo)
Min ET Value Parámetro
(Valor de la ET
mínima)
Revisión 1.0 Manual de usuario de opciones HART/DE de la serie ST 700
Parámetro Descripción
Configuración
NVM
Parámetro Descripción
Configuración
NVM
Método Descripción
Configuración
NVM
Tabla 21: Diagnóstico de la ET mínima
Descripción
Configuración
Descripción
Ejemplo
Configuración
Descripción
Configuración
NVM
Temperatura de la electrónica más alta que
ha experimentado el dispositivo.
Las unidades son las mismas unidades de
grado que se han seleccionado para la SV
(variable secundaria).
Ninguna.
Actualización cada ocho horas.
Acumulación de minutos que la temperatura
de la electrónica del dispositivo ha superado
el valor de "ET Upper Stress Limit" (Límite
superior del esfuerzo de la ET).
Ninguna.
Una copia de seguridad cada ocho horas.
El tiempo transcurrido desde la última vez
que la temperatura de la electrónica del
dispositivo superó el valor de "ET Upper
Stress Limit" (Límite superior del esfuerzo
de la ET) (en días, horas y minutos).
Ninguna.
Una copia de seguridad cada ocho horas.
Límite de funcionamiento inferior de la
temperatura de la electrónica (ET) de la
especificación.
Las unidades son las mismas unidades
de grado que se han seleccionado para
la SV (variable secundaria).
Ninguna.
Límite real utilizado en "Time Below
Limit" (Tiempo inferior al límite) y en
"Time Since Last Event" (Tiempo desde
el último evento). El valor es igual al de
"Min ET Limit" (Límite mínimo de la ET)
más el 10 % del rango de límites.
El rango de la temperatura de la
electrónica es de -40 C a 85 C para un
total de 125 C.
"ET Lower Limit" (Límite inferior de la ET
para la condición de esfuerzo)
-40 C + 10 % de 125 C = -27,5 C.
Ninguna, el cálculo es automático.
Temperatura de la electrónica más baja
que ha experimentado el dispositivo.
Las unidades son las mismas unidades
de grado que se han seleccionado para
la SV (variable secundaria).
Ninguna.
Actualización cada ocho horas.
Página 87