Tabla de contenido
Datos técnicos
Salidas por semiconductor
Tiempo de procesamiento máx. de
la salida por semiconductor con
cambio de señal de "0" a "1"
Separación de potencial respecto a
la tensión del sistema
A prueba de cortocircuitos
Cargas permitidas
Salidas por semiconductor bipo-
lares
Número de salidas por semicon-
ductor bipolares
Intervalo de corriente permitido
Tensión en los bornes al desco-
nectar cargas inductivas
Corriente de salida típica con señal
a "1" y tensión nominal salidas por
semiconductor
Corriente residual con señal a "0"
Corriente pulsada máx. para t <
100 ms
Detección de rotura de conducto-
res a partir de
Separación de potencial
A prueba de cortocircuitos
Cargas permitidas
Duración máx. del impulso de test
de conexión
Duración máx. del impulso de test
de desconexión
Tiempo de procesamiento máx. de
la salida por semiconductor con
cambio de señal de "0" a "1"
Tiempo de procesamiento máx. de
la salida por semiconductor con
cambio de señal de "1" a "0"
Salidas de tacto de prueba
Número de salidas de tacto de
prueba
Tensión salidas de tacto de prueba 24 V DC
A prueba de cortocircuitos
Número de las salidas configura-
bles como tacto de prueba
Corriente de salida máx. con señal
a "1"
Longitud de línea máx. entre salida
de tacto de prueba y entrada
Norma para cortes de tensión
Manual de instrucciones PSSu K F FAU B, PSSu K F FAU P
1003434-ES-05
312420
0,45 ms
Sí
Sí
inductiva, capacitiva, resistiva
312420
2
0,00 - 3,75 A
-185 V
3 A
0,02 mA
12 A
0,17 kOhm
Sí
Sí
inductiva, capacitiva, resistiva
4 ms
400 µs
9,3 ms
0,25 ms
312420
2
Sí
2
0,25 A
200 m
EN61131-2, EN61496-1
312421
0,45 ms
Sí
Sí
inductiva, capacitiva, resistiva
312421
2
0,00 - 3,75 A
-185 V
3 A
0,02 mA
12 A
0,17 kOhm
Sí
Sí
inductiva, capacitiva, resistiva
4 ms
400 µs
9,3 ms
0,25 ms
312421
2
24 V DC
Sí
2
0,25 A
200 m
EN61131-2, EN61496-1
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