Tabla de contenido
K2: N.C Test
= Circuito de corriente de reposo contactos 21-22-24, con test
K2: N.O Test
= Circuito de corriente de trabajo contactos 21-22-24, con test
K2:N.C.
= Circuito de corriente de reposo contactos 21-22-24, sin test
K2:N.O
= Circuito de corriente de trabajo contactos 21-22-24, sin test
K2: Flash
= Función de intermitencia contactos 21-22-24
K3 se parametra en el menú EDS Setup, ver página 49.
5.4.4 Ajuste de la memoria
Memory: on
= La memoria de fallos está conectada
Memory: off
= Está desconectada la memoria de fallos (Ajuste de fábrica)
En el menú ISO SETUP se puede ajustar el comportamiento de la me-
moria de fallos del IRDH575. Este ajuste no afecta al comportamiento
de memoria de los aparatos EDS acoplados: este comportamiento
puede ajustarse en el menú EDS 460/490 y EDS470.
5.4.5 Salida de corriente para instrumentos de medida externos
La salida de corriente del IRDH575 puede ajustarse con el punto del menú
"M+/M-" a los valores "0-20 mA" o bien a "4-20 mA".
La carga máxima tolerada es de 500 Ω.
Función 0...20 mA:
R
= Fallo de aislamiento, I= Corriente en mA
F
Función 4...20 mA:
R
= Fallo de aislamiento, I= Corriente in mA
F
Las líneas características correspondientes pueden verse a partir de la página 49.
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de relés (en servicio normal el relé está cerrado)
de relés (en servicio normal, el relé está abierto)
de relés (en servicio normal el relé está cerrado)
de relés (en servicio normal el relé de alarma no está abierto)
(el relé de salida y el LED se encienden con luz intermitente
durante un aviso de alarma aproximadamente 0,5 Hz)
Después de subsanada la causa del fallo, hay que reponer el apa-
rato pulsando la tecla RESET
Manejo y ajustes
IRDH575_D00089_01_M_XXES/06.2015
Tabla de contenido
