Dell E14S Serie Guía De Introducción página 9

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Entorno
De 35 °C a 40 °C (de 95 °F a 104 °F)
De 40 °C a 45 °C (de 104 °F a 113 °F)
Contaminación de partículas
NOTA: Esta sección define los límites para evitar daños en el equipo de TI y/o errores de la
contaminación gaseosa y de partículas. Si se determina que los niveles de polución gaseosa o de
partículas están por encima del límite especificado a continuación y que son motivo de daño y/o
errores en su equipo, puede que sea necesario que solucione las condiciones ambientales que
causan el daño y/o los errores. La solución de las condiciones ambientales será responsabilidad del
cliente.
Filtración de aire
NOTA: Se aplica solo a los entornos de
centro de datos. Los requisitos de la
filtración de aire no se aplican a los
equipos de TI designados para ser
utilizados fuera del centro de datos, en
entornos tales como una oficina o una
fábrica.
Polvo conductor
NOTA: Se aplica a entornos de centro de
datos y entornos de centro sin datos.
Polvo corrosivo
NOTA: Se aplica a entornos de centro de
datos y entornos de centro sin datos.
Contaminación gaseosa
NOTA: Niveles máximos de contaminación corrosiva medidos al ≤50% de humedad relativa
Velocidad de corrosión del cupón de cobre
Velocidad de corrosión del cupón de plata
Se reduce la temperatura máxima 1 °C/175 m (1
°F/319 pies) por encima de los 950 m (3117 pies).
Se reduce la temperatura máxima 1 °C/125 m (1
°F/228 pies) por encima de los 950 m (3117 pies).
ISO clase 8 por ISO 14644-1 define la filtración de
aire de centro de datos con un límite de confianza
superior del 95%.
NOTA: El aire que entre en el centro de datos
tiene que tener una filtración MERV11 o
MERV13.
El aire debe estar libre de polvo conductor,
filamentos de zinc u otras partículas conductoras.
El aire debe estar libre de polvo corrosivo.
El polvo residual que haya en el aire debe tener
un punto delicuescente inferior a una humedad
relativa del 60%.
<300 Å cada mes por Clase G1 de acuerdo con
ANSI/ISA71.04-1985.
<200 Å cada mes de acuerdo con AHSRAE TC9.9.
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