Apéndice B: Generalidades Sobre La Espectrometría De; Fluorescencia De Rayos X - Olympus Vanta Serie Manual Del Usuario

Apéndice B: Generalidades sobre la espectrometría
de fluorescencia de rayos X
La espectrometría de XRF determina la composición elemental de un material.
Este método permite detectar los elementos en una sustancia y cuantificar las
cantidades de dichos elementos. Un elemento se caracteriza por la energía de emisión
de rayos X (E). El valor cuantitativo de la presencia de un elemento se determina
mediante la medición de la intensidad de sus aspectos característicos.
En la espectrometría de XRF, los primeros fotones de rayos X son emitidos desde una
fuente (tubo de rayos X o radioisótopo) para colisionar con la muestra. Los primeros
fotones de la fuente de rayos X están dotados de suficiente energía para colisionar con
electrones de los orbitales internos. Un electrón de una órbita externa ingresa al
espacio recientemente vacante en la órbita interna. Cuando un electrón desde el
orbital externo se desplaza hacia el espacio orbital interno, este emite una energía
denominada fotón de rayos X secundario.
Este fenómeno es denominado fluorescencia (ver Figura B-1 en la página 104). El rayo
X secundario que ha sido irradiado es lo que caracteriza a un elemento específico.
Generalidades sobre la espectrometría de fluorescencia de rayos X
DMTA-10072-01ES, Rev. A, Febrero 2016
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