Declaración Del Fabricante Sobre Compatibilidad Electromagnética - Leica M844 Manual De Instrucciones

Indicaciones de seguridad
Declaración del fabricante sobre la compatibilidad electromagnética (CEM)
La base de este documento de directrices y declaración del fabricante es la norma EN 60601-1-2:2001.
Tabla 201 según EN 60601-1-2:2001
Directrices y declaración del fabricante: Emisión electromagnética
Los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 se han diseñado para ser utilizados en un entorno como el descrito a continuación.
El cliente o el usuario de los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 deberá asegurarse de que se
utilice en un entorno de esas características.
Medición de emisiones
HF – Emisiones
según CISPR 11
HF – Emisiones
según CISPR 11
Emisiones de
oscilaciones armónicas
según IEC 61000-3-2
Emisión de
fluctuaciones de tensión/
Flicker conforme a IEC 61000-3-3
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Concordancia Guía sobre entornos electromagnéticos de interferencia
Grupo 1 Los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 utilizan energía de alta
frecuencia exclusivamente para su función interna. Por este motivo, su emisión
de alta frecuencia es muy limitada y es poco probable que puedan estropearse
los aparatos electrónicos cercanos.
Clase A Los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 son adecuados para su
utilización según CISPR en instalaciones distintas del área habitable y que
estén conectadas indirectamente a una red de suministro pública que también
dé suministro a edificios con viviendas.
Clase A
concuerda
Leica M844 – Leica M820 / Ref. 10 713 294 / Versión J Leica M844 – Leica M820 / Ref. 10 713 294 / Versión J