1: Menú Del Walk Test - Honeywell NOTIFIER NFS2-3030 Manual De Programación

Walktest (Análisis de memoria)
4.6.1 Menú del Walk Test
Teclas multifunción
BASIC/ADVANCED (Básico/Avanzado): Presione para moverse entre las dos opciones.
Deténgase en el análisis que desee.
SILENT/AUDIBLE (Silencioso/Audible): Esta tecla multifunción es para uso futuro. El Walk
Test es audible.
PARAMETER (Parámetro): Presione para desplazarse por las opciones. Deténgase en el parámetro
que desee. Si elije el parámetro Lazos, aparecerá la pantalla Programación de lazos del Walk Test.
(Consulte la figura 4.10.) Si elije el parámetro Zona, aparecerá la pantalla Walk Test en zona.
(Consulte la figura 4.13.) Si elije el parámetro Dispositivos, aparecerá la pantalla Walk Test en
dispositivos (Consulte la figura 4.11).
Si se elije este
parámetro...
LAZOS
PANEL
DISPOSITIVOS Detectores individuales analizados uno por vez.
ZONA
DISABLE ACS BOARDS (Desactivar placas ACS): Esta tecla multifunción permite que el
operador desactive los dispositivos ACS durante el Walk Test (Análisis de memoria). Presione para
moverse entre las dos opciones, YES (desactivar) y NO (activar). Valor predeterminado: YES
Manual de programación NFS2-3030 — P/N 52545SP:D1 10/19/2011
L A K E V I E W G E N E R A L H O S P I T A L
S Y S T E M N O R M A L
1 0 : 2 2 : 3 4 A T U E J A N 1 5 , 2 0 0 8
B A S I C / A D V A N C E D : B A S I C
S I L E N T / A U D I B L E : A U D I B L E
P A R A M E T E R : Z O N E
D I S A B L E A C S B O A R D S : Y E S
Figura 4.9 pantalla Menú del Walk Test
Los dispositivos/puntos especificados que
participan en el análisis básico...
Todos los dispositivos/puntos especificados en todos
los SLC del FACP que son configurados para
participar en el Walk Test con la excepción de las
ecuaciones lógicas, cuya activación está
suspendida.
Todo el panel - todos los dispositivos/puntos
especificados configurados para participar en el Walk
Test - participarán con la excepción de las ecuaciones
lógicas, cuya activación está suspendida.
Para Walktest BÁSICO únicamente. Cuando la zona
ingresada en el campo de parámetro está presente en
la primera (principal) ubicación de control por evento
del dispositivo, ese dispositivo participará en el Walk
Test cuando la zona de parámetro entre en el Walk Test
W A L K T E S T
Los dispositivos/puntos
especificados que participan en el
análisis avanzado...
Todos los dispositivos/puntos
especificados en todos los SLC del
FACP que son configurados para
participar en el Walk Test.
Todo el panel - todos los
dispositivos/puntos especificados
configurados para participar en el
Walk Test - participarán.
Detectores únicamente.
no corresponde
Tabla 4.1
Cambio de estado
A C C E P T
B A C K
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