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3.3.1.5 Selección del dispositivo de impacto Equotip Leeb
Para ensayos optimizados de diversos materiales metálicos y geometrías de la muestra, está a disposición una gama de dispositivos de impacto
según "Tabla 1: Requisitos de la pieza de ensayo Leeb".
Tipo DC: Dispositivo corto. Para el uso en
espacios muy confinados, p. ej. en agujeros,
en cilindros o para mediciones internas
en máquinas ensambladas. Energía de
impacto: 11 Nmm
Tipo S: Indentador de bola de Si3N4.
Sobre todo para ensayos en el rango de
dureza muy alto (por encima de 50 HRC
/ 650 HV): aceros de herramientas con
inclusiones de alto contenido de carburo.
Energía de impacto: 11 Nmm
Tipo E: Indentador de bola de diamante.
Para ensayos en el rango de dureza muy
alto (por encima de 50 HRC / 650 HV):
aceros de herramientas con inclusiones
de alto contenido de carburo. Más
durable que el tipo S.
Energía de impacto: 11 Nmm
Figura 13: Equotip Leeb Dispositivos de impacto
© 2017 Proceq SA
Tipo G: Energía de impacto incrementada. Para componentes
sólidos e inhomogéneos, p. ej. piezas de fundición o forjadas
pesadas.
Energía de impacto: 90 Nmm
Tipo D: Unidad universal. Para la mayoría
de los requerimientos del usuario en la
ejecución de ensayos de dureza.
Energía de impacto: 11 Nmm
Tipo C: Energía de impacto reducida.
Componentes de superficie endurecida,
revestimientos, componentes de
pared delgada o sensibles al impacto
(indentación de medición pequeña).
Energía de impacto: 3 Nmm
Type DL: Sección frontal delgada.
Para medición en espacios confinados, en la
base de ranuras o en superficies rebajadas.
Energía de impacto: 11 Nmm
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