Tabla de contenido
Surtronic S25
Ancho de Banda El ancho de banda es la relación entre el corte
superior (Lc) y el corte inferior (Ls).
Longitud de Muestreo El perfil se divide en longitudes de
muestreo 1, con una longitud suficiente para incluir una cantidad
estadísticamente fiable de datos. Para el análisis de aspereza y
ondulación, la longitud de muestreo es igual a la longitud de onda
de corte (lc) seleccionada. La longitud de muestreo también se
conoce como longitud de corte.
Longitud de Evaluación La longitud en la dirección del eje X
utilizada para evaluar el perfil bajo evaluación. La longitud de
evaluación puede contener una o más longitudes de muestreo. Para
los perfiles principales, la longitud de evaluación es igual a la
longitud de muestreo.
Nota: Casi todos los parámetros se definen evaluando una
longitud de muestreo, sin embargo en la práctica se evalúa más
de una longitud de muestreo (normalmente cinco) y la media
calculada. Esto proporciona una mejor estimación estadística
del valor medido de los parámetros.
Los equipos Taylor Hobson cumplen las normas ISO 3274-1996,
ISO 4287-1997, ISO 4288-1996, ISO 11 562 y otras Normas
Internacionales pertinentes.
Se puede encontrar información más detallada sobre las texturas
de superficies en general y sobre los instrumentos de medición
tipo estilete en particular en el libro "Explorando las Texturas de
Superficies", publicado por Taylor Hobson.
Definiciones de Parámetros
La textura de las superficies viene cuantificada por parámetros que
se refieren a ciertas características de la textura. El Surtronic 25
ofrece los siguientes parámetros:
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