Tabla de contenido
4-40
Puesta en servicio
Desconecte de
la tarjeta el conector de
2 polos del SCR
Puntos de prueba para
resistencia de compuerta
a cátodo en conector de 2 polos
7000L-UM300G-ES-P – Enero de 2007
Resistencia de compuerta a cátodo
Una prueba que puede realizarse en SCR pero que no puede
realizarse en los SGCT es la prueba de resistencia de compuerta a
cátodo. Una medición de resistencia de compuerta a cátodo
identificará daños en un SCR que revelarán una conexión de
compuerta a cátodo ya sea abierta o en cortocircuito. Para probar un
SCR de compuerta a cátodo, desconecte los conductores de la
compuerta del SCR desde la tarjeta del driver de compuerta
autoalimentada y mida la resistencia de compuerta a cátodo en el
conector Phoenix de la tarjeta de disparo del SCR como se muestra a
continuación:
Figura 4.10 – Prueba de compuerta a cátodo del SCR
El valor de resistencia de compuerta a cátodo debe estar entre 10 Ω y
20 Ω. Un valor cercano a 0 Ω indica que existe un cortocircuito
interno en el SCR. Un valor extremadamente alto indica que la
conexión de la compuerta en el dispositivo está interrumpida.
Si una prueba de compuerta a cátodo revela un SCR dañado,
encontrará un procedimiento detallado de reemplazo en
el Capítulo 6 – Definición y mantenimiento de componentes.
7000 estructura "C"
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Solución de problemas
